[发明专利]光波导及其制作方法、降低III-V半导体波导侧壁散射损耗的方法有效
申请号: | 201410681262.9 | 申请日: | 2014-11-24 |
公开(公告)号: | CN105700072B | 公开(公告)日: | 2019-05-17 |
发明(设计)人: | 张瑞英 | 申请(专利权)人: | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 |
主分类号: | G02B6/122 | 分类号: | G02B6/122;G02B6/13 |
代理公司: | 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 | 代理人: | 王锋 |
地址: | 215123 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本申请公开了一种光波导及其制作方法、降低III‑V半导体波导侧壁散射损耗的方法,该光波导包括芯层,所述芯层的表面包覆有限制层,所述限制层包括氧化铝包层,该氧化铝包层与所述芯层之间形成有光滑的侧壁。本发明采用含Al的III‑V半导体作为光波导芯层材料,并通过Al氧化定义其光波导,一方面由Al氧化定义的光波导使得含Al半导体被Al2O3介质包围,二者的折射率差较小,由此使得散射损耗对波导侧壁粗糙度敏感性降低;另一方面,Al氧化工艺为湿法氧化技术,该种化学反应是在分子水平产生作用的,因此,由其定义的波导结构,其侧壁粗糙度无疑远小于干法刻蚀。 | ||
搜索关键词: | 波导 及其 制作方法 降低 iii 半导体 侧壁 散射 损耗 方法 | ||
【主权项】:
1.一种光波导,其特征在于,包括芯层,所述芯层的表面包覆有限制层,所述限制层包括氧化铝包层,该氧化铝包层与所述芯层之间形成有光滑的侧壁,所述芯层为含Al的III‑V半导体,通过对所述III‑V半导体进行氧化形成所述氧化铝包层。
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