[发明专利]一种GaN异质结二极管器件及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201410608662.7 申请日: 2014-11-03
公开(公告)号: CN104362181B 公开(公告)日: 2017-07-04
发明(设计)人: 裴轶;陈洪维 申请(专利权)人: 苏州捷芯威半导体有限公司
主分类号: H01L29/861 分类号: H01L29/861;H01L29/06;H01L21/329
代理公司: 北京品源专利代理有限公司11332 代理人: 路凯,胡彬
地址: 215123 江苏省苏州市工业*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种GaN异质结二极管器件及其制作方法,所述器件包括衬底;位于所述衬底上的缓冲层;位于所述缓冲层上的沟道层;位于所述沟道层上势垒层,所述势垒层与沟道层形成异质结构,并在异质结界面处形成二维电子气沟道;位于所述势垒层上的冒层;位于所述势垒层上方、所述冒层两侧的第一欧姆阳极和欧姆阴极,所述第一欧姆阳极与所述冒层接触;位于所述第一欧姆阳极和所述冒层上的第二欧姆阳极,所述第二欧姆阳极与所述冒层欧姆金属接触。本发明解决了现有技术中在控制正向开启电压与反向漏电之间相互矛盾的问题,实现了二极管同时具有低开启电压,低导通电阻、高反向耐压和高正向导通电流的特性。
搜索关键词: 一种 gan 异质结 二极管 器件 及其 制备 方法
【主权项】:
一种GaN异质结二极管器件,其特征在于,包括:衬底;位于所述衬底上的缓冲层;位于所述缓冲层上的沟道层;位于所述沟道层上的势垒层,所述势垒层与沟道层形成异质结构,并在异质结界面处形成二维电子气沟道;位于所述势垒层上的冒层;位于所述势垒层上方、所述冒层两侧的第一欧姆阳极和欧姆阴极,所述第一欧姆阳极与所述冒层接触;位于所述第一欧姆阳极和所述冒层上的第二欧姆阳极,所述第二欧姆阳极与所述冒层形成欧姆金属接触;其中,所述冒层材料为p型AlGaN和p型GaN的任意一种或二者形成的渐变层;所述第二欧姆阳极结构包括Ni、Au、Pt、Pd、W、Ag、Cr、ITO中的任意一种或任意几种组合的合金。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州捷芯威半导体有限公司,未经苏州捷芯威半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410608662.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top