[发明专利]激光跟踪仪光轴与机械转轴平移量的检测装置和方法有效
| 申请号： | 201410531483.8 | 申请日： | 2014-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN104316002B | 公开（公告）日： | 2017-09-29 |
| 发明（设计）人： | 劳达宝;周维虎;纪荣祎;张滋黎;袁江;刘鑫;崔成君 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电研究院 |
| 主分类号： | G01B11/27 | 分类号： | G01B11/27 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人： | 宋焰琴 |
| 地址： | 100094*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种激光跟踪仪光轴与机械转轴平移量的检测装置，包括套筒(12)、显微系统(01)、光电探测器(17)以及成像系统(19)，其中所述显微系统(01)可以与成像系统(19)配合将所述激光跟踪仪发射的激光相对于光轴的偏移量放大。以及一种激光跟踪仪光轴与机械转轴平移量的检测方法。本发明的检测装置和方法可对平移量进行高精度检测，测量的结果可用于激光跟踪仪光轴调整和误差修正，也可用于提高激光跟踪仪的角度测量误差精度。本发明的装置具有设计简洁、结构简单、测量精度高、成本低廉、便于携带等特点。 | ||
| 搜索关键词： | 激光 跟踪 光轴 机械 转轴 平移 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种激光跟踪仪光轴与机械转轴平移量的检测装置，包括：套筒(12)，是中空的圆筒，一端设置有能够与激光跟踪仪机械转轴可拆卸的连接的套筒与激光跟踪仪机械转轴的接口(07)，另一端可拆卸地与光电探测器(17)连接；显微系统(01)，安装在套筒(12)靠近所述套筒与激光跟踪仪机械转轴接口(07)的一端，用于与成像系统(19)配合将所述激光跟踪仪发射的激光相对于光轴的偏移量放大；光电探测器(17)，用于探测所述激光跟踪仪发射的激光光斑的大小及位置；以及成像系统(19)，安装在套筒(12)靠近所述光电探测器(17)的一端，用于将所述激光跟踪仪发射的激光会聚到所述光电探测器(17)的靶面上。
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