[发明专利]可编程存储器有效

专利信息
申请号: 201410448719.1 申请日: 2014-09-04
公开(公告)号: CN104425513B 公开(公告)日: 2017-06-23
发明(设计)人: 南相釪 申请(专利权)人: 东部HITEK株式会社
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115
代理公司: 上海和跃知识产权代理事务所(普通合伙)31239 代理人: 丁国芳
地址: 韩国首尔*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种可编程存储器。可编程存储器具有选择晶体管,其包括栅、源和漏极。反熔丝器件被连接至选择晶体管的漏极区域。反熔丝器件包括漏极区域上部衬底上的电介质层,电介质层上的多晶硅层,以及与漏极区域相接触的反熔丝电极线。当选择晶体管被接通且通过反熔丝线施加高电压时,电介质层被击穿且反熔丝器件被编程。
搜索关键词: 可编程 存储器
【主权项】:
一种可编程存储器,包括:选择晶体管,其包括栅极区域、源极区域和漏极区域;以及反熔丝器件,其连接至所述选择晶体管的所述漏极区域,其中,所述反熔丝器件包括在所述漏极区域上表面上的电介质层,在所述电介质层上的多晶硅层,以及与所述漏极区域接触的第一电极;所述源极区域被配置为具有第一导电型的第一扩散区;并且所述漏极区域被配置为具有第二导电型的第二扩散区。
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