[发明专利]一种碳化硅双极性晶体管有效
| 申请号: | 201410425765.X | 申请日: | 2014-08-26 |
| 公开(公告)号: | CN104201197A | 公开(公告)日: | 2014-12-10 |
| 发明(设计)人: | 张有润;孙成春;董梁;马金荣;张波 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
| 主分类号: | H01L29/72 | 分类号: | H01L29/72;H01L29/06 |
| 代理公司: | 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 | 代理人: | 李玉兴 |
| 地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明涉及半导体技术领域,具体的说是涉及一种碳化硅双极性晶体管。本发明的碳化硅双极性晶体管,其特征在于,在N+发射区205与P+掺杂区207之间的P-基区204上表面设置有N+外延层210;所述N+外延层210上表面设置有N+外延层电极211;所述基极208与N+外延层210和N+外延层电极211之间、N+外延层210和N+外延层电极211与N+发射区205和发射极206之间通过SiO2介质层209隔离。本发明的有益效果为,既能有效地降低表面复合、提高电流增益,同时其结构简单,在工艺上较容易实现。本发明尤其适用于碳化硅双极性晶体管。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 碳化硅 极性 晶体管 | ||
【主权项】:
一种碳化硅双极性晶体管,包括N+衬底(202)、设置在N+衬底(202)上层的N‑漂移区(203)和设置在N‑漂移区(203)上层的P‑基区(204);所述N+衬底(202)下表面设置有集电极(201);所述P‑基区(204)上表面中间部位设置有N+发射区(205),其上层的两侧分别设置有P+掺杂区(207);所述N+发射区(205)上表面设置有发射极(206);所述P+掺杂区(207)上表面设置有基极(208);其特征在于,在N+发射区(205)与P+掺杂区(207)之间的P‑基区(204)上表面设置有N+外延层(210);所述N+外延层(210)上表面设置有N+外延层电极(211);所述基极(208)与N+外延层(210)和N+外延层电极(211)之间、N+外延层(210)和N+外延层电极(211)与N+发射区(205)和发射极(206)之间通过SiO2介质层(209)隔离。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学;,未经电子科技大学;许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410425765.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:光电二极管以及光电二极管阵列
- 下一篇:图像传感器及其形成方法
- 同类专利
- 专利分类





