[发明专利]一种碳化硅双极性晶体管有效

专利信息
申请号: 201410425765.X 申请日: 2014-08-26
公开(公告)号: CN104201197A 公开(公告)日: 2014-12-10
发明(设计)人: 张有润;孙成春;董梁;马金荣;张波 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L29/72 分类号: H01L29/72;H01L29/06
代理公司: 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 代理人: 李玉兴
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明涉及半导体技术领域,具体的说是涉及一种碳化硅双极性晶体管。本发明的碳化硅双极性晶体管,其特征在于,在N+发射区205与P+掺杂区207之间的P-基区204上表面设置有N+外延层210;所述N+外延层210上表面设置有N+外延层电极211;所述基极208与N+外延层210和N+外延层电极211之间、N+外延层210和N+外延层电极211与N+发射区205和发射极206之间通过SiO2介质层209隔离。本发明的有益效果为,既能有效地降低表面复合、提高电流增益,同时其结构简单,在工艺上较容易实现。本发明尤其适用于碳化硅双极性晶体管。
搜索关键词: 一种 碳化硅 极性 晶体管
【主权项】:
一种碳化硅双极性晶体管,包括N+衬底(202)、设置在N+衬底(202)上层的N‑漂移区(203)和设置在N‑漂移区(203)上层的P‑基区(204);所述N+衬底(202)下表面设置有集电极(201);所述P‑基区(204)上表面中间部位设置有N+发射区(205),其上层的两侧分别设置有P+掺杂区(207);所述N+发射区(205)上表面设置有发射极(206);所述P+掺杂区(207)上表面设置有基极(208);其特征在于,在N+发射区(205)与P+掺杂区(207)之间的P‑基区(204)上表面设置有N+外延层(210);所述N+外延层(210)上表面设置有N+外延层电极(211);所述基极(208)与N+外延层(210)和N+外延层电极(211)之间、N+外延层(210)和N+外延层电极(211)与N+发射区(205)和发射极(206)之间通过SiO2介质层(209)隔离。
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