[发明专利]LCVD长线成膜修补品质监控装置及监控方法在审

专利信息
申请号: 201410379531.6 申请日: 2014-08-04
公开(公告)号: CN105420694A 公开(公告)日: 2016-03-23
发明(设计)人: 郭晓辉;颜圣佑;黄俊杰;高印 申请(专利权)人: 上海和辉光电有限公司
主分类号: C23C16/52 分类号: C23C16/52;H01L51/56
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 张浴月;石海霞
地址: 201500 上海市金山区*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种LCVD长线成膜修补品质监控装置,包括:至少两个测试键,分别设置在面板外围的无效空白区域上;LCVD长线成膜部件,在所述测试键的引脚之间进行长线成膜;以及TEG测试组件,分别对长线成膜后的所述测试键的电阻进行测量,并根据测量后的电阻值对LCVD长线成膜修补品质进行监控。本发明能够对LCVD设备的长线成膜修补品质进行监控,从而提高了产品质量,避免了在后端进行RA验证所造成的时间和原材料的浪费。
搜索关键词: lcvd 长线 修补 品质 监控 装置 方法
【主权项】:
一种激光化学气相沉积长线成膜修补品质监控装置,包括:至少两个测试键,分别设置在面板外围的无效空白区域上;激光化学气相沉积长线成膜部件,在所述测试键的引脚之间进行长线成膜;以及测试组件,分别对长线成膜后的所述测试键的电阻进行测量,并根据测量后的电阻值对激光化学气相沉积长线成膜修补品质进行监控。
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