[发明专利]一种制备InP薄膜材料的方法有效

专利信息
申请号: 201410160592.3 申请日: 2014-04-21
公开(公告)号: CN103911600A 公开(公告)日: 2014-07-09
发明(设计)人: 刘兴泉;刘一町;张铭菊;何永成 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: C23C16/44 分类号: C23C16/44;C23C16/30
代理公司: 电子科技大学专利中心 51203 代理人: 李明光
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供一种制备InP薄膜材料的方法,以In2O3、P2O5为起始原料,将In2O3与P2O5按摩尔比混合,密封与真空安瓶中,在500℃~600℃条件下反应生成InPO4固体材料;然后以氢气、氢气-氩气混合气、活性炭及碳氢化合物等为还原萃取剂,采用高温原位固相类萃取反应气相沉积法,在垂直梯度冷凝薄膜沉积装置中,在较低真空条件下、在Si、Ge、不锈钢、导电玻璃、导电陶瓷等不同衬底上成功制备得厚度完全可控的、具有高结晶度的、高纯度单一物相的InP薄膜材料;本发明适用于较大规模的制备InP薄膜材料,制备周期短,对衬底材料适应性强;使用原料简单、价廉易得,且均为固体或无毒气体,对环境无污染,制备工艺简单、易于操作,产品制备成本极低。
搜索关键词: 一种 制备 inp 薄膜 材料 方法
【主权项】:
一种制备InP薄膜材料的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1.以In2O3,P2O5为原料,按摩尔比In:P=1:1~2的比例混合,加入与固体原料质量50%~100%相当的无水乙醇,研磨均匀后干燥除去溶剂,用10~15MPa的压力将其压成片材,然后将其密封于真空安瓶中,在管式电炉中加热至500℃~600℃,恒温2~4h,自然冷却得到InPO4固体材料;步骤2.将真空安瓶打碎,放置InPO4固体材料于薄膜沉积装置内反应区,基片预设于薄膜沉积装置沉积区,用高纯氮气抽真空置换到氧气浓度为ppm级,再用Ar和H2混合气体抽真空置换1~2次,然后再抽真空至7~13Pa,控制升温速度为5~10℃/min,反应区加热升温1200℃~1250℃,沉积区加热升温至600℃~800℃,通入高纯氢气、作为萃取还原剂,恒温3~4h,其间保持真空度≥‑0.08Mpa,最后自然降温至室温,即得到InP薄膜材料。
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