[发明专利]一种制备InP薄膜材料的方法有效
申请号: | 201410160592.3 | 申请日: | 2014-04-21 |
公开(公告)号: | CN103911600A | 公开(公告)日: | 2014-07-09 |
发明(设计)人: | 刘兴泉;刘一町;张铭菊;何永成 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | C23C16/44 | 分类号: | C23C16/44;C23C16/30 |
代理公司: | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人: | 李明光 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 制备 inp 薄膜 材料 方法 | ||
1.一种制备InP薄膜材料的方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1.以In2O3,P2O5为原料,按摩尔比In:P=1:1~2的比例混合,加入与固体原料质量50%~100%相当的无水乙醇,研磨均匀后干燥除去溶剂,用10~15MPa的压力将其压成片材,然后将其密封于真空安瓶中,在管式电炉中加热至500℃~600℃,恒温2~4h,自然冷却得到InPO4固体材料;
步骤2.将真空安瓶打碎,放置InPO4固体材料于薄膜沉积装置内反应区,基片预设于薄膜沉积装置沉积区,用高纯氮气抽真空置换到氧气浓度为ppm级,再用Ar和H2混合气体抽真空置换1~2次,然后再抽真空至7~13Pa,控制升温速度为5~10℃/min,反应区加热升温1200℃~1250℃,沉积区加热升温至600℃~800℃,通入高纯氢气、作为萃取还原剂,恒温3~4h,其间保持真空度≥-0.08Mpa,最后自然降温至室温,即得到InP薄膜材料。
2.按权利要求1所述一种制备InP薄膜材料的方法,其特征在于,步骤1所述片材为圆形或方形,厚度为1~10mm。
3.按权利要求1所述一种制备InP薄膜材料的方法,其特征在于,步骤2中所述Ar和H2混合气体中H2体积百分比为10%~30%。
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C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
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C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的