[发明专利]最优化对数似然比的方法以及纠错方法和设备有效
| 申请号： | 201410096588.5 | 申请日： | 2014-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN104052498B | 公开（公告）日： | 2019-01-18 |
| 发明（设计）人： | 尹翔镛;金经纶;千镇泳 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | H03M13/11 | 分类号： | H03M13/11;G06F11/10 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 李琳 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 提供了一种最优化用于纠正与存储在非易失性存储器设备中的数据有关的错误的对数似然比（LLR）的方法。在该方法中，监控包括在非易失性存储器设备中的多个存储器单元的阈值电压分布的变化，并且基于监控结果更新用于存储器单元的LLR。即使存储器单元的特性退化，LLR仍持续地维持在最优值。 | ||
| 搜索关键词： | 优化 对数 方法 以及 纠错 设备 | ||
【主权项】：
1.一种最优化用于纠正与存储在非易失性存储器设备中的数据有关的错误的对数似然比(LLR)的方法，该方法包括：监控包括在所述非易失性存储器设备中的多个存储器单元的阈值电压分布的变化；以及基于监控的结果更新用于所述存储器单元的LLR，其中，监控阈值电压分布的变化包括：检测所述存储器单元的当前阈值电压分布；以及通过将预先存储的所述存储器单元的初始阈值电压分布与当前阈值电压分布进行比较，来估计阈值电压分布的变化方向和变化程度。
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