[发明专利]非易失性半导体存储装置及存储系统在审
申请号: | 201410073379.9 | 申请日: | 2014-02-28 |
公开(公告)号: | CN104658602A | 公开(公告)日: | 2015-05-27 |
发明(设计)人: | 菱田智雄;白川政信 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | G11C16/04 | 分类号: | G11C16/04;H01L27/112 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 万利军;陈海红 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及非易失性半导体存储装置及存储系统。提供可以管理不良区域的非易失性半导体存储装置、存储控制器及存储系统。具备阵列和对所述阵列进行控制的周边电路,所述阵列具备包括多个存储串的第1块和第2块,所述存储串包括能保持数据的n个存储单元;所述n条第1信号布线(CG)配置于所述第1块;所述m条第2信号布线(CG)配置于所述第2块,其中,n为自然数,m为自然数,n>m。 | ||
搜索关键词: | 非易失性 半导体 存储 装置 存储系统 | ||
【主权项】:
一种非易失性半导体存储装置,其特征在于,具备:存储单元阵列,其包括层叠于半导体基板的多个存储单元,具备第1块和第2块,所述第1块包括多个存储串,所述存储串包括n个存储单元,其中,n为自然数,所述第2块能保持的数据量与所述第1块不同且包括多个所述存储串,和周边电路,其对所述存储单元阵列进行控制;在所述第1块配置有所述n条第1信号布线,所述n条第1信号布线连接于与所述第1块内的存储单元连接的、沿第1方向延伸的第1字线组,且沿与所述第1方向不同的第2方向延伸;在所述第2块配置有m条第2信号布线,该m条第2信号布线连接于与所述第2块内的存储单元连接的、沿所述第1方向延伸的第2字线组,且沿所述第2方向延伸,其中,m为自然数,n>m。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社东芝;,未经株式会社东芝;许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410073379.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体器件及编程失败单元
- 下一篇:Mp3两用卡子