[发明专利]一种测量物体间偏差的方法有效
| 申请号： | 201410070827.X | 申请日： | 2014-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN104880148B | 公开（公告）日： | 2018-01-16 |
| 发明（设计）人： | 李宁;张新华;于华林;刘思源 | 申请（专利权）人： | 同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/02 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人： | 闫小龙,王忠忠 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测量物体间偏差的方法，其特征在于，具有如下步骤（a）利用在X轴上排列多个单位探测器而成的探测器阵列测量来自光源的光束的光强分布曲线；（b）根据在步骤（a）中得到的光强分布曲线，得到所述光强分布曲线与X轴所包围的封闭曲线在所选取的参考点即X轴0点的两侧的光通量之差，由此，确定光束中心与所述探测器阵列的所述参考点之间的偏差。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 物体 偏差 方法 | ||
【主权项】：
一种测量物体间偏差的方法，其特征在于，具有如下步骤：（a）利用在X轴上排列多个单位探测器而成的探测器阵列测量来自光源的光束的光强分布曲线；（b）根据在步骤（a）中得到的光强分布曲线，得到所述光强分布曲线与X轴所包围的封闭曲线在所选取的参考点即X轴0点的两侧的光通量之差，由此，确定光束中心与所述探测器阵列的所述参考点之间的偏差。
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