[发明专利]用于功率MOSFET应用的端接沟槽有效

专利信息
申请号: 201410057850.5 申请日: 2014-02-20
公开(公告)号: CN104009083B 公开(公告)日: 2018-04-27
发明(设计)人: 李亦衡;马督儿·博德;高立德;哈姆扎·依玛兹;王晓彬;潘继;常虹;金钟五 申请(专利权)人: 万国半导体股份有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L21/336
代理公司: 上海信好专利代理事务所(普通合伙)31249 代理人: 张静洁,张妍
地址: 美国加利福尼亚,*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的各个方面提出了一种功率MOSFET器件的端接结构。端接沟槽形成在半导体材料中,包围着MOSFET的有源区。端接沟槽还包含导电材料的第一和第二部分。导电材料的第一和第二部分相互电绝缘。要强调的是,本摘要必须使研究人员或其他读者快速掌握技术说明书的主旨内容,本摘要符合以上要求。应明确,本摘要将不用于解释或局限权利要求书的范围或意图。
搜索关键词: 用于 功率 mosfet 应用 端接 沟槽
【主权项】:
一种半导体器件,其特征在于,包含:一个有源器件区,其包含若干有源器件;一个端接沟槽,其包围有源器件区,所述端接沟槽包含:第一导电区,其包围有源器件区;一个绝缘区,其包围第一导电区;和一个第二导电区,其包围第一导电区和绝缘区;以及一个端接屏蔽电极,形成在导电材料的第一和第二部分之间,其中端接屏蔽电极与导电材料的第一和第二部分电绝缘,其中端接屏蔽电极维持在源极电势;所述有源器件区和端接沟槽形成在一第一导电类型的半导体材料中;所述第一导电区电性连接一栅极金属,以及第二导电区连接一漏极金属。
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