[发明专利]一种在芯片封装过程中使用的卸料块座有效
申请号: | 201410045792.4 | 申请日: | 2014-02-08 |
公开(公告)号: | CN104835756B | 公开(公告)日: | 2017-12-15 |
发明(设计)人: | 朱荣杰;王晶;仇荣武;孙玉峰 | 申请(专利权)人: | 无锡华润安盛科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 无锡互维知识产权代理有限公司32236 | 代理人: | 庞聪雅 |
地址: | 214028 江苏省无锡*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种用于芯片封装工艺中的卸料块座,其包括卸料块座主体,限位切筋刀具的限位件可拆卸的固定在卸料块座主体上。卸料块座主体的左右内壁对称的开有多个槽,合金镶件通过所述槽可拆卸的固定在所述卸料块座主体上。本发明使用了可拆卸的镶件代替了现有技术中与卸料块座主体一体成型的限位件,在芯片封装工艺的切筋步骤中,卸料块座中用于限位切筋刀具的限位件会与切筋刀具发生接触,从而造成限位件的磨损,使用本发明的可拆卸的合金镶件作为限位件可以在限位件磨损后只更换限位件而不用更换整个卸料块座,从而延长卸料块座的使用寿命,此外可以通过使用硬度更高的合金来制造限位件,从而在延长卸料块座使用寿命的同时节省成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 芯片 封装 过程 使用 卸料 | ||
【主权项】:
一种用于芯片封装过程中的卸料块座,其特征在于,包括:中空的卸料块座主体,其具有至少一对相对的内壁;所述一对相对的内壁上对称的设置有多对卡槽;多个限位件,一一对应的与所述多对卡槽相结合,限位件之间相互平行且距离相等,形成多个大小相等的限位口;其中,所述多个限位件的硬度大于所述卸料块座主体的硬度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于无锡华润安盛科技有限公司,未经无锡华润安盛科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410045792.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:TSV盲孔的制作方法
- 下一篇:一种沟槽IGBT器件的制造方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造