[发明专利]线键合方法和结构有效
申请号: | 201410043610.X | 申请日: | 2014-01-29 |
公开(公告)号: | CN103972199B | 公开(公告)日: | 2018-10-30 |
发明(设计)人: | O·J·洛佩兹;J·A·诺奇尔;J·A·赫布斯摩尔 | 申请(专利权)人: | 德克萨斯仪器股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/495 | 分类号: | H01L23/495;H01L21/60;H01L23/31 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 赵蓉民;李英 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明涉及一种集成电路(“IC”)组件,其包括在其顶面上具有金属化层的IC模片。多个引线62、64、66、68在其第一端部70被键合到金属化层60。被附着到金属化层60的导电层80覆盖引线62、64、66、68的第一端部70。 | ||
搜索关键词: | 线键合 方法 结构 | ||
【主权项】:
1.一种集成电路组件即IC组件,其包括:IC模片,其具有位于所述IC模片的表面上的金属化层;引线,每个引线具有第一端部和第二端部,所述引线的所述第一端部被键合到所述金属化层;以及被施加到所述金属化层的连续导电层,所述连续导电层覆盖所述引线的所述第一端部。
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