[发明专利]芯片封装方法及封装结构有效
申请号: | 201410041992.2 | 申请日: | 2014-01-28 |
公开(公告)号: | CN103779245A | 公开(公告)日: | 2014-05-07 |
发明(设计)人: | 王之奇;杨莹;王蔚 | 申请(专利权)人: | 苏州晶方半导体科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L21/56;H01L23/488;H01L23/31 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 骆苏华 |
地址: | 215021 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 一种芯片封装方法及封装结构,所述芯片封装方法包括:提供基底,所述基底包括:衬底和衬底表面的客户层,所述客户层的表面为第一表面,与所述第一表面相对的衬底表面为第二表面,所述客户层内形成有若干焊垫;刻蚀基底的第二表面,形成第一凹槽,所述第一凹槽底部暴露出若干焊垫及部分客户层的表面;在第一凹槽内壁表面形成绝缘层;形成第二凹槽,第二凹槽沿焊垫的排列方向,依次贯穿相邻焊垫以及相邻焊垫之间的客户层;在第一凹槽、第二凹槽以及绝缘层表面形成布线金属层;在所述布线金属层表面形成阻焊层,阻焊层内具有开口,开口暴露出部分布线金属层的表面;在开口内形成位于布线金属层表面的焊球。上述封装方法可以提高封装结构的可靠性。 | ||
搜索关键词: | 芯片 封装 方法 结构 | ||
【主权项】:
一种芯片封装方法,其特征在于,包括:提供基底,所述基底包括:衬底和位于衬底表面的客户层,所述客户层的表面为基底的第一表面,与所述第一表面相对的衬底的表面为第二表面,所述客户层内形成有若干焊垫;刻蚀所述基底的第二表面,形成第一凹槽,所述第一凹槽底部暴露出若干焊垫及部分客户层的表面;在所述第一凹槽内壁表面及基底的第二表面上形成绝缘层;形成第二凹槽,所述第二凹槽沿焊垫的排列方向,依次贯穿相邻焊垫以及相邻焊垫之间的客户层;在所述第一凹槽、第二凹槽以及绝缘层表面形成布线金属层;在所述布线金属层表面形成阻焊层,所述阻焊层内具有开口,所述开口暴露出部分布线金属层的表面;在所述开口内形成位于布线金属层表面的焊球。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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