[发明专利]半导体激光阵列光学特性检测装置有效
| 申请号： | 201410028497.8 | 申请日： | 2014-01-21 |
| 公开（公告）号： | CN103792070A | 公开（公告）日： | 2014-05-14 |
| 发明（设计）人： | 曹银花;郭志婕;王智勇;刘友强;李景 | 申请（专利权）人： | 北京工业大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京汇信合知识产权代理有限公司 11335 | 代理人： | 王秀丽 |
| 地址： | 100124 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种半导体激光阵列光学特性检测装置，涉及一种激光技术领域。该发明包括半导体激光阵列、检测装置、电控平移台与计算机，其中，检测装置包括吸收模块A、吸收模块B、反射棱镜A、反射棱镜B与平面反射镜，吸收模块A和吸收模块B分别设置在检测装置的上部与下部，反射棱镜A的底部固定在吸收模块A的下方且其尖端向下倾斜，反射棱镜B的底部固定在吸收模块B的上方且其尖端向上倾斜，反射棱镜A的尖端和反射棱镜B的尖端相靠近形成一间隙，平面反射镜固定在间隙的中轴线处并且位于所述反射棱镜A和所述反射棱镜B后方。本发明对半导体激光阵列中巴条的光学特性参数进行高精度和自动化检测，并对其质量进行了有效控制，降低了成本。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 激光 阵列 光学 特性 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种半导体激光阵列光学特性检测装置，包括半导体激光阵列、检测装置、电控平移台与计算机，其特征在于，所述检测装置包括吸收模块A、吸收模块B、反射棱镜A、反射棱镜B与平面反射镜，所述吸收模块A和所述吸收模块B分别设置在所述检测装置的上部与下部，用以吸收剩余巴条的反射光以及所述平面反射镜的反射光；所述反射棱镜A的底部固定在所述吸收模块A的下方且其尖端向下倾斜，所述反射棱镜B的底部固定在所述吸收模块B的上方且其尖端向上倾斜，所述反射棱镜A的尖端和所述反射棱镜B的尖端相靠近形成一间隙，用以选择被测巴条；所述平面反射镜固定在所述检测装置中所述间隙的中轴线处并且位于所述反射棱镜A和所述反射棱镜B后方，用以将被测巴条发射的光进行一级衰减。
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