[发明专利]一种亚微米光栅的制作方法在审
申请号: | 201410003127.9 | 申请日: | 2014-01-03 |
公开(公告)号: | CN104765247A | 公开(公告)日: | 2015-07-08 |
发明(设计)人: | 林文魁;王逸群;张宝顺 | 申请(专利权)人: | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 |
主分类号: | G03F7/00 | 分类号: | G03F7/00;G02B5/18 |
代理公司: | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人: | 宋鹰武;沈祖锋 |
地址: | 215123 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开一种亚微米光栅的制作方法,包括如下步骤,S1.涂光刻胶、坚膜;S2.利用掩膜版对线条的中心部分进行光学曝光;S3.采用电子束曝光,通过套刻标记将线条边缘细节套刻到所述线条的中心部分;S4.显影,及后处理工艺;S5.去胶,完成光栅制作;或者,S1.涂光刻胶、坚膜;S2.采用电子束曝光,对线条边缘细节进行曝光;S3.利用掩膜版对线条的中心部分进行光学曝光;S4.显影,及后处理工艺;S5.去胶,完成光栅制作。本发明通过一次涂胶、两次曝光、一次显影工艺制作光栅,制作工艺简化,节约时间及成本;同时,由于工艺步骤简化,避免多次工艺拼接造成的变形,保证了光栅线条的精度,提高器件或图形的性能。 | ||
搜索关键词: | 一种 微米 光栅 制作方法 | ||
【主权项】:
一种亚微米光栅的制作方法,其特征在于,包括如下步骤,S1、涂光刻胶、坚膜;S2、利用掩膜版对线条的中心部分进行光学曝光;S3、采用电子束曝光,通过套刻标记将线条边缘细节套刻到所述线条的中心部分;S4、显影,及后处理工艺;S5、去胶,完成光栅制作;或者,S1、涂光刻胶、坚膜;S2、采用电子束曝光,对线条边缘细节进行曝光;S3、利用掩膜版对线条的中心部分进行光学曝光;S4、显影,及后处理工艺;S5、去胶,完成光栅制作。
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