[发明专利]氮化铝覆铜陶瓷基板的制备方法有效
申请号: | 201410001975.6 | 申请日: | 2014-01-02 |
公开(公告)号: | CN103762181B | 公开(公告)日: | 2018-12-18 |
发明(设计)人: | 俞晓东;贺贤汉;李德善;祝林 | 申请(专利权)人: | 上海申和热磁电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48 |
代理公司: | 上海顺华专利代理有限责任公司 31203 | 代理人: | 沈履君 |
地址: | 200444 上海市宝*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明氮化铝覆铜陶瓷基板的制备方法,包括:第一步,对氮化铝陶瓷和铜片进行清洗;第二步,对氮化铝陶瓷进行预氧化处理,使陶瓷表面生成氧化铝层;第三步,对预氧化后的氮化铝陶瓷表面添加金属改性层,所述金属改性层为含铜氧化物,并进行烧结;第四步,铜片表面进行热氧化处理,使铜片表面生成氧化亚铜;第五步,将铜片放置在经过改性处理的氮化铝陶瓷表面进行第一面烧结,完成之后再进行第二面烧结。本发明氮化铝覆铜陶瓷基板的制备方法通过在预氧化的氮化铝与铜片之间添加一种含铜氧化物的金属改性层,可使氮化铝与铜片之间紧密结合,可有效解决AlN‑DBC表面气泡问题。 | ||
搜索关键词: | 氮化 铝覆铜 陶瓷 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.氮化铝覆铜陶瓷基板的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:第一步,对氮化铝陶瓷和铜片进行清洗;第二步,对氮化铝陶瓷进行预氧化处理,使陶瓷表面生成氧化铝层;第三步,对预氧化后的氮化铝陶瓷表面添加金属改性层,所述金属改性层为含铜氧化物,并进行烧结;第四步,铜片表面进行热氧化处理,使铜片表面生成氧化亚铜;第五步,将铜片放置在经过改性处理的氮化铝陶瓷表面进行第一面烧结,完成之后再进行第二面烧结;所述金属改性层为CuO或Cu2O或两者混合物;所述金属改性层为CuAlO2或CuAl2O4或两者混合物;所述金属改性层的厚度为1μm~50μm;所述第三步中,烧结是在1050℃~1200℃下进行,烧结时间为10min~120min,气氛为氮气保护的弱氧气氛,氧含量为100ppm~1000ppm;所述第一步中,对氮化铝陶瓷和铜片采用酸碱溶液、去离子水,通过超声清洗、喷淋、预脱水工艺进行清洗;所述第二步中,对氮化铝陶瓷进行预氧化处理,温度设定为1000℃~1300℃,氧化时间为0.5h~24h,气氛为氮气保护下的氧化气氛,氮氧含量比为4:1~10:1,氧化铝层厚度为1μm~100μm;所述第四步中,铜片表面进行热氧化处理,氧化温度设定为500℃~900℃,氧化时间为10min~60min,氧化气氛为氮气保护下的氧化气氛,氧含量为500ppm~3000ppm;所述第五步中,第一面烧结的温度设定为1060℃~1075℃,烧结时间为20min~35min,气氛为氮气保护的弱氧气氛,氧含量为5ppm~200ppm;第二面烧结的温度设定为1065℃~1080℃,烧结时间为20min~35min,气氛为氮气保护的弱氧气氛,氧含量为5ppm~200ppm。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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