[发明专利]用以改良控制的利用直流电辅助射频功率的半导体处理有效

专利信息
申请号: 201380041015.6 申请日: 2013-07-25
公开(公告)号: CN104508804B 公开(公告)日: 2017-10-31
发明(设计)人: J-G·杨;X·陈;朴书南;白宗薰;S·加格;S·文卡特拉马 申请(专利权)人: 应用材料公司
主分类号: H01L21/3065 分类号: H01L21/3065;H05H1/30
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司31100 代理人: 黄嵩泉
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 所揭露的半导体处理系统包括处理腔室。该处理腔室包括上盖组件、栅电极、传导性插件,以及接地电极。每一部件耦接于一或多个电源,该等电源可运作以于该处理腔室内产生等离子体。每一部件经由置放数个绝缘构件而电气隔离。该一或多个电源利用切换机制而电气耦接于该处理腔室。开关可切换以使该一或多个电源电气耦接至该处理腔室的部件。
搜索关键词: 用以 改良 控制 利用 直流电 辅助 射频 功率 半导体 处理
【主权项】:
一种半导体处理系统,包括:处理腔室,该处理腔室包括:上盖组件,该上盖组件限定前体入口,前体物种输送通过该前体入口;接地电极;栅电极,配置在该上盖组件和该接地电极之间,并于该腔室内的该栅电极和该上盖组件之间限定第一等离子体区域以及于该腔室内的该栅电极和该接地电极之间限定第二等离子体区域;环形传导性插件,该环形传导性插件耦接至该处理腔室的侧壁的一部分内并且限定该侧壁的该部分,其中该侧壁的该部分位在该第一等离子体区域的周边处的该上盖组件和该栅电极之间;第一绝缘构件,置放以使该栅电极自该传导性插件电气隔离;第二绝缘构件,置放以使该上盖组件自该传导性插件电气隔离,其中该第一绝缘构件及该第二绝缘构件的至少其中一个包括该处理腔室的该侧壁的一部分;第一电源,其电气耦接于该上盖组件;及第二电源,其电气耦接于该上盖组件、该栅电极或该传导性插件中至少其一。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于应用材料公司,未经应用材料公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201380041015.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top