[实用新型]一种减少硅片表面颗粒的检验箱有效

专利信息
申请号: 201320804498.8 申请日: 2013-12-05
公开(公告)号: CN203588978U 公开(公告)日: 2014-05-07
发明(设计)人: 刘琦;张晋会;李诺;刘园;吕莹 申请(专利权)人: 天津中环领先材料技术有限公司
主分类号: H01L21/66 分类号: H01L21/66
代理公司: 天津滨海科纬知识产权代理有限公司 12211 代理人: 孙春玲
地址: 300384 天津市滨海新区*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 实用新型提供一种减少硅片表面颗粒的检验箱,包括箱体、净化装置、支架、检验台、与检验台相配的强光灯、检验台旁设有储物台、通过固定架设置在箱体侧壁内侧的荧光灯和检测装置;净化装置和支架分置在箱体的上端和下端所述检测装置为真空吸笔。箱体外表面为不锈钢。所述箱体侧壁内侧设有挂钩。箱体内壁有静电喷涂的黑色无尘漆,黑色背景更有利于检测。支架主体为焊接的不锈钢,其底端有调平螺栓,可方便调节,保持设备稳定,不锈钢材料耐腐蚀性好。使用效果好,实用性高,检测效果好,有效防止产品被污染,安全性强。
搜索关键词: 一种 减少 硅片 表面 颗粒 检验
【主权项】:
一种减少硅片表面颗粒的检验箱,其特征在于:包括箱体(1)、净化装置(2)、支架(3)、检验台(4),与检验台(4)相配的强光灯(5),检验台(4)旁设有储物台(6),通过固定架(7)设置在箱体(1)侧壁内侧的荧光灯(8)和检测装置(9);所述净化装置(2)和支架(3)分置在箱体(1)的上端和下端。
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