[实用新型]一种TSV露头结构有效

专利信息
申请号: 201320237566.7 申请日: 2013-05-03
公开(公告)号: CN203312288U 公开(公告)日: 2013-11-27
发明(设计)人: 张文奇;宋崇申 申请(专利权)人: 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司
主分类号: H01L23/538 分类号: H01L23/538
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 唐灵;常亮
地址: 214135 江苏省无锡市菱*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种TSV露头结构,包括半导体衬底,所述半导体衬底内设有至少一个TSV导电柱,该TSV导电柱贯穿于衬底正面和衬底背面之间,并延伸出衬底背面上形成露头部分,所述衬底背面与TSV露头部分相连的区域设有坡形的缓冲区,该缓冲区具有连续的高度变化,其高度以邻近TSV露头部分的位置最高,并逐渐过渡到与衬底背面相同的高度。通过在TSV露头部分与半导体衬底表面之间设置一个缓冲结构,使TSV露头部分与半导体衬底表面之间呈现一个连续的高度变化,从而改变了原先TSV露头部分与半导体衬底表面的垂直关系,克服了PVD工艺时,种子层可能在此处产生的断层问题,提高了微凸点与TSV露头的连接可靠性。
搜索关键词: 一种 tsv 露头 结构
【主权项】:
一种TSV露头结构,包括半导体衬底,所述半导体衬底内设有至少一个TSV导电柱,该TSV导电柱贯穿于衬底正面和衬底背面之间,并延伸出衬底背面上形成露头部分,其特征在于:所述衬底背面与TSV露头部分相连的区域设有坡形的缓冲区,该缓冲区具有连续的高度变化,其高度以邻近TSV露头部分的位置最高,并逐渐过渡到与衬底背面相同的高度。
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