[发明专利]一种InGaN基多量子阱结构及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201310736780.1 申请日: 2013-12-27
公开(公告)号: CN103746052A 公开(公告)日: 2014-04-23
发明(设计)人: 贾伟;党随虎;许并社;李天保;梁建;董海亮 申请(专利权)人: 太原理工大学
主分类号: H01L33/06 分类号: H01L33/06;H01L33/26;H01L33/00
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人: 张建纲
地址: 030024 *** 国省代码: 山西;14
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摘要: 发明涉及一种InGaN基多量子阱结构,通过在所述GaN垒层上面依次生长所述In组分渐增量子阱层与Si掺杂的GaN垒层呈交替排布的多层结构,之后沿生长方向进一步包括所述In组分固定的量子阱层、In组分递减垒层和GaN垒层呈周期性排布的多层结构,从而本发明所述的InGaN基多量子阱结构能够有效缓解少垒和阱界面处的应力,缓解能带的弯曲,控制电子和空穴的辐射复合区域,提高电子和空穴的注入效率和辐射复合效率,从而有利于进一步获得晶体质量好、内量子效率高、发光效率高的GaN基LED结构,并且其发光峰的半高宽较小,发出光波长较均一。
搜索关键词: 一种 ingan 基多 量子 结构 及其 制备 方法
【主权项】:
一种InGaN基多量子阱结构,其特征在于,其结构沿生长方向依次为:第一GaN垒层、第一In组分渐增量子阱层、第一Si掺杂的GaN垒层、第二In组分渐增量子阱层、第二Si掺杂的GaN垒层、第三In组分渐增量子阱层、第三Si掺杂的GaN垒层、第一固定In组分的量子阱层、第一In组分递减垒层、第二GaN垒层、第二固定In组分的量子阱层、第二In组分递减垒层、第三GaN垒层、第三固定In组分的量子阱层、第三In组分递减垒层、第四GaN垒层;所述第一、第二、第三In组分渐增量子阱层分别为InxGa1‑xN量子阱层、InyGa1‑yN量子阱层、InzGa1‑zN量子阱层,其中x、y、z沿生长方向呈连续性增加;所述第一、第二、第三In组分递减垒层分别为InwGa1‑wN垒层、InmGa1‑mN垒层、InnGa1‑nN垒层;其中w、m、n分别沿生长方向逐渐减小;所述第一、第二、第三固定In组分的量子阱层为InvGa1‑vN量子阱层,v沿生长方向固定不变。
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