[发明专利]彩膜基板的修补方法有效

专利信息
申请号: 201310721868.6 申请日: 2013-12-23
公开(公告)号: CN103676242A 公开(公告)日: 2014-03-26
发明(设计)人: 李启明;张明文;吴斌;李晶晶;李朝阳;崔秀娟;李娟 申请(专利权)人: 合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 李迪
地址: 230012 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明提供一种彩膜基板的修补方法,该彩膜基板的修补方法包括:捕获彩膜基板的图像;对该图像进行灰度化处理;根据该图像的灰度值在该图像中提取缺陷区域;检测该缺陷区域的边缘;根据该缺陷区域的边缘对该缺陷区域进行分块处理,得到该缺陷区域的子缺陷区域;在该子缺陷区域内选取研磨点进行研磨。本发明实通过将彩膜基板中的缺陷分为若干部分,然后分别对该若干部分进行测高研磨,从而解决了尺寸较大的缺陷点会出现过研磨的问题。
搜索关键词: 彩膜基板 修补 方法
【主权项】:
一种彩膜基板的修补方法,其特征在于,包括:捕获彩膜基板的图像;对所述图像进行灰度化处理;根据所述图像的灰度值在所述图像中提取缺陷区域;检测所述缺陷区域的边缘;根据所述缺陷区域的边缘对所述缺陷区域进行分块处理,得到所述缺陷区域的子缺陷区域;在所述子缺陷区域内选取研磨点进行研磨。
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