[发明专利]彩膜基板的修补方法

说明书

技术领域

本发明涉及显示领域，尤其涉及一种彩膜基板的修补方法。

背景技术

随着光电技术与半导体制造技术的发展，液晶显示器凭借其轻薄、携带方便等优势，已经完全取代了传统的CRT显示器成为显示器件的主流，液晶显示面板主要包括阵列基板、彩膜基板以及在阵列基板与彩膜基板之间填充的液晶层，背光源发出的光经过液晶分子的调制入射到彩膜基板，通过彩膜基板的红色色阻、绿色色阻以及蓝色色阻的滤光作用，分别显示红、绿、蓝三种光线。彩膜基板是用来实现彩色显示的主要器件，但是，彩膜基板生产过程中无可避免会因为颗粒（Particle）产生各种缺陷点。为提升产品良率，需要对缺陷点进行修复。

现有的缺陷点自动研磨方法是通过寻找缺陷点灰度值最大处，确定缺陷点的坐标，然后对确定的缺陷点进行研磨，但是，由于研磨点坐标确认之后无法自动调整，会一直针对某一点进行研磨，所以尺寸较大的缺陷点会出现过研磨的问题。

发明内容

（一）要解决的技术问题

本发明要解决的技术问题是：如何解决彩膜基板上的缺陷点出现过研磨的问题。

（二）技术方案

为解决上述技术问题，本发明提供了一种彩膜基板的修补方法，包括：

捕获彩膜基板的图像；

对所述图像进行灰度化处理；

根据所述图像的灰度值在所述图像中提取缺陷区域；

检测所述缺陷区域的边缘；

根据所述缺陷区域的边缘对所述缺陷区域进行分块处理，得到所述缺陷区域的子缺陷区域；

在所述子缺陷区域内选取研磨点进行研磨。

进一步地，根据所述图像的灰度值在所述图像中提取缺陷区域包括：

获取所述图像的最小灰度值和最大灰度值；

对所述图像中灰度值在最小灰度值与最大灰度值之间的像素点进行第一次分割，得到第一分割阈值；

对所述图像中灰度值在最小灰度值与第一分割阈值之间的像素点进行第二次分割，得到第二分割阈值；

将所述图像中灰度值小于第二分割阈值的像素点作为缺陷像素点，得到缺陷区域。

进一步地，检测所述缺陷区域的边缘包括：

将所述缺陷像素点的灰度值设为第一灰度值，将所述图像中所述缺陷像素点之外的像素点的灰度值设为第二灰度值，得到缺陷区域的二值化图像；

对所述二值化图像进行检测，得到所述缺陷区域的边缘。

进一步地，根据所述缺陷区域的边缘对所述缺陷区域进行分块处理之前还包括：

根据所述缺陷区域的边缘获取所述缺陷区域的最小外接矩形；

计算所述缺陷区域的最小外接矩形的面积；

若所述面积大于第一预设值且小于第二预设值，则根据所述缺陷区域的边缘对所述缺陷区域进行分块处理。

进一步地，若所述面积小于或等于第一预设值，将所述缺陷区域的最小外接矩形的中心点作为研磨点进行研磨。

进一步地，若所述面积大于或等于第二预设值，判断所述彩膜基板为不良。

进一步地，根据所述缺陷区域的边缘对所述缺陷区域进行分块处理包括：

计算所述缺陷区域的最小外接矩形的长与宽的比值；

根据所述比值确定所述分块处理的分块数，并将所述缺陷区域的最小外接矩形按照所述分块数进行分块处理。

进一步地，根据所述比值确定所述分块处理的分块数，并将所述缺陷区域的最小外接矩形按照所述分块数进行分块处理包括：

判断所述比值是否大于第三预设值；

若是，将所述比值取整后与第四预设值相加，得到所述分块处理的分块数，并将所述缺陷区域的最小外接矩形在长度方向按照所述分块数进行等分；

否则，将第五预设值作为所述分块处理的分块数，并将所述缺陷区域的最小外接矩形按照所述分块数进行等分。

进一步地，在所述子缺陷区域内选取研磨点进行研磨包括：

对所述子缺陷区域提取缺陷轮廓；

获取所述缺陷轮廓的最小外接矩形；

将所述缺陷轮廓的最小外接矩形的中心点作为研磨点进行研磨。

（三）有益效果

本发明实通过将彩膜基板中的缺陷分为若干部分，然后分别对该若干部分进行测高研磨，从而解决了尺寸较大的缺陷点会出现过研磨的问题。

附图说明

图1是本发明实施方式提供的一种彩膜基板的修补方法的流程图；

图2～4是本发明实施方式提供的一种在缺陷区域选取研磨点的示意图；

图5～7是本发明实施方式提供的另一种在缺陷区域选取研磨点的示意图；