[发明专利]一种掺杂硅量子点发光二极管器件及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201310606319.4 申请日: 2013-11-25
公开(公告)号: CN103618037B 公开(公告)日: 2017-04-19
发明(设计)人: 曾祥斌;廖武刚;文西兴;郑文俊;冯枫;文杨阳;黄诗涵 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: H01L33/26 分类号: H01L33/26;H01L33/00
代理公司: 华中科技大学专利中心42201 代理人: 朱仁玲
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种掺杂硅量子点发光二极管,包括硅衬底,沉积银纳米颗粒层,以及在银纳米颗粒结构上沉积多层分布均匀且包含掺杂硅量子点的SiNx薄膜,透明导电薄膜AZO层以及Si3N4钝化层。还公开了该发光二极管的制备方法,利用掺杂硅量子点‑SiNx薄膜的电致发光特性,构成发光二极管的发光有源层;利用掺杂可以钝化量子点,同时掺杂硅量子点与硅衬底形成的p‑n结增强电子空穴的辐射复合。此外,利用银纳米结构增加电致发光的强度,提高了发光器件的发光效率,且与传统的CMOS工艺兼容。
搜索关键词: 一种 掺杂 量子 发光二极管 器件 及其 制备 方法
【主权项】:
一种掺杂硅量子点发光二极管器件,包括:具有外延层的P+/P型硅衬底(2);在硅衬底(2)上形成的银纳米颗粒层(3),所述银纳米颗粒层(3)的厚度为30nm~40nm;在银纳米颗粒层(3)上,由多个Si3N4层(4)和掺杂富硅SiNx层(5)交替沉积形成的基于SiNx织构的掺杂硅量子点发光二极管器件有源发光层,所述有源发光层通过在氩气环境温度为700℃~950℃下进行退火处理,析出掺杂硅量子点而形成,所述有源发光层的厚度为75nm~160nm,所掺的杂质是磷(P)或砷(As),所述硅量子点的直径在2nm~6nm,密度为1×1012cm‑2~1×1014cm‑2,所述SiNx织构是指富硅的氮化物,其中x的取值为0~1.33;在所述有源发光层上沉积的透明导电薄膜层(6);在透明导电薄膜层(6)上生长的钝化层(7);在钝化层(7)上刻蚀形成的金属电极(8);以及在硅衬底(2)背面沉积形成的金属电极层(1)。
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