[发明专利]MIM电容器及其制造方法有效
申请号: | 201310581474.5 | 申请日: | 2013-11-18 |
公开(公告)号: | CN103855157A | 公开(公告)日: | 2014-06-11 |
发明(设计)人: | 罗埃尔·达门;格哈德·库普斯;皮特·杰勒德·斯蒂内肯 | 申请(专利权)人: | NXP股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/08 | 分类号: | H01L27/08;H01L23/522;H01L21/822 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 王波波 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 一种集成电路,包括:支撑物,在支撑物上方的至少三个金属层,该金属层包括具有顶板的顶部金属层和具有底板的底部金属层,在顶板和底板之间的介电材料,以便形成电容器,以及在支撑物上的多个氧化物层,该氧化物层包括顶部氧化物层,每个氧化物层各自覆盖相应的金属层。顶部氧化物层覆盖顶部金属层以及具有开口,通过该开口暴露至少部分顶板。一种通过提供具有金属和氧化物层的支撑物形成集成电路的方法,包括底板,形成腔体暴露底板,用介电材料填充腔体,应用具有顶板的另外的金属层和另外的氧化物层,以及形成开口以暴露顶板。 | ||
搜索关键词: | mim 电容器 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种集成电路,其特征在于,包括:支撑物;布置在支撑物上方的至少三个金属层,所述金属层包括具有顶板的顶部金属层和具有底板的底部金属层;介电材料,所述介电材料设置在所述顶板和所述底板之间,以便形成电容器;以及布置在支撑物上的多个氧化物层,所述氧化物层包括顶部氧化物层,每个所述氧化物层各自覆盖相应的所述金属层;其中,顶部氧化物层覆盖顶部金属层,并且顶部氧化物层具有开口,通过该开口暴露至少部分顶板。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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