[发明专利]MIM电容器及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201310581474.5 申请日: 2013-11-18
公开(公告)号: CN103855157A 公开(公告)日: 2014-06-11
发明(设计)人: 罗埃尔·达门;格哈德·库普斯;皮特·杰勒德·斯蒂内肯 申请(专利权)人: NXP股份有限公司
主分类号: H01L27/08 分类号: H01L27/08;H01L23/522;H01L21/822
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王波波
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 一种集成电路,包括:支撑物,在支撑物上方的至少三个金属层,该金属层包括具有顶板的顶部金属层和具有底板的底部金属层,在顶板和底板之间的介电材料,以便形成电容器,以及在支撑物上的多个氧化物层,该氧化物层包括顶部氧化物层,每个氧化物层各自覆盖相应的金属层。顶部氧化物层覆盖顶部金属层以及具有开口,通过该开口暴露至少部分顶板。一种通过提供具有金属和氧化物层的支撑物形成集成电路的方法,包括底板,形成腔体暴露底板,用介电材料填充腔体,应用具有顶板的另外的金属层和另外的氧化物层,以及形成开口以暴露顶板。
搜索关键词: mim 电容器 及其 制造 方法
【主权项】:
一种集成电路,其特征在于,包括:支撑物;布置在支撑物上方的至少三个金属层,所述金属层包括具有顶板的顶部金属层和具有底板的底部金属层;介电材料,所述介电材料设置在所述顶板和所述底板之间,以便形成电容器;以及布置在支撑物上的多个氧化物层,所述氧化物层包括顶部氧化物层,每个所述氧化物层各自覆盖相应的所述金属层;其中,顶部氧化物层覆盖顶部金属层,并且顶部氧化物层具有开口,通过该开口暴露至少部分顶板。
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