[发明专利]用于滤色器阵列的介电结构有效

专利信息
申请号: 201310488049.1 申请日: 2013-10-17
公开(公告)号: CN104299976B 公开(公告)日: 2018-01-05
发明(设计)人: 黄胤杰;李国政;郑志成 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司11409 代理人: 章社杲,孙征
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明提供了一种集成电路器件,其中,光电二极管阵列形成在半导体衬底的表面处。包括多层电介质的介电结构形成在光电二极管上方。滤色器阵列形成在光电二极管上方及介电结构内。滤色器的底部沿介电结构的两层之间的界面对准。界面提供允许良好的控制沟槽深度的蚀刻停止,沟槽用于在其中形成滤色器。
搜索关键词: 用于 滤色器 阵列 结构
【主权项】:
一种集成电路器件,包括:半导体衬底,具有表面;光电二极管阵列,位于所述表面处;介电结构,位于所述光电二极管上方,所述介电结构包括第一介电层、第二介电层和蚀刻停止层,其中,所述第二介电层位于所述第一介电层上方,所述蚀刻停止层位于所述第一介电层和所述第二介电层之间;以及滤色器阵列,位于所述光电二极管上方和所述介电结构内;其中,所述介电结构的多层位于所述滤色器和所述光电二极管之间;所述介电结构的多层形成将邻近的滤色器间隔开的网格;以及所述介电结构具有界面,所述滤色器的底部与所述界面对准;金属互连件,布置在所述半导体衬底上方,其中,所述金属互连件从所述半导体衬底延伸穿过抗反射涂层和缓冲层,所述金属互连件的顶面位于所述蚀刻停止层的垂直下方,并且所述金属互连件与所述光电二极管阵列横向偏移,其中,所述抗反射涂层位于所述半导体衬底上方,所述缓冲层位于所述抗反射涂层上方。
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