[发明专利]一种In掺杂硫化锌薄膜及其制备方法和应用有效
申请号: | 201310486713.9 | 申请日: | 2013-10-17 |
公开(公告)号: | CN103531660A | 公开(公告)日: | 2014-01-22 |
发明(设计)人: | 程树英;廖洁;周海芳;赖云锋;俞金玲;龙博;贾宏杰;张红 | 申请(专利权)人: | 福州大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0296;H01L31/0352 |
代理公司: | 福州元创专利商标代理有限公司 35100 | 代理人: | 蔡学俊 |
地址: | 350108 福建省福州市*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本发明公开了一种In掺杂硫化锌薄膜及其制备方法和应用,采用化学浴沉积法制备薄膜,属于非真空化学气相沉积,该方法薄膜成份容易控制、制备成本低、适合进行大规模生产。本发明利用掺入杂质的办法来降低硫化锌薄膜的电阻率,测试表明:当在ZnS中掺杂2at.%的In时,薄膜的杂质相少、光学透过率高(可见光区的光学透过率约为85%)、电阻率低(2.6×105Ωcm)。所制得的ZnS薄膜适用于作为太阳电池的缓冲层材料。 | ||
搜索关键词: | 一种 in 掺杂 硫化锌 薄膜 及其 制备 方法 应用 | ||
【主权项】:
一种In掺杂ZnS薄膜的制备方法,其特征在于:包括以下步骤:(1)利用化学浴沉积法来制备薄膜,以醋酸锌为锌源、硫代乙酰胺为硫源、柠檬酸钠为络合剂,利用醋酸与醋酸锌配合作为缓冲液控制溶液的pH值;(2)以硫酸铟作为掺杂源对薄膜进行掺杂处理,In元素的掺杂量为ZnS的0 at.% ‑4 at.%;(3)将沉积制得的In掺杂ZnS薄膜在N2气氛中进行退火处理,退火处理的温度为350℃,退火处理的时间为1.5 h,冷却至室温。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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