[发明专利]一种半导体研磨硅片取片方法无效
申请号: | 201310477685.4 | 申请日: | 2013-10-14 |
公开(公告)号: | CN103600286A | 公开(公告)日: | 2014-02-26 |
发明(设计)人: | 陈峰;汪利峰 | 申请(专利权)人: | 万向硅峰电子股份有限公司 |
主分类号: | B24B37/34 | 分类号: | B24B37/34 |
代理公司: | 杭州九洲专利事务所有限公司 33101 | 代理人: | 陈继亮 |
地址: | 324300 浙江省衢*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明涉及一种半导体研磨硅片取片方法,该方法是利用中心设有孔洞,后端连接有气囊的乳胶吸盘进行取片,取片时,将气囊中的空气排出部分后,然后将乳胶吸盘的中心孔洞对准硅片的1/2半径处,之后将气囊松开,硅片就吸附在乳胶吸盘上,将硅片取出后,用手将气囊内的空气排出,硅片从乳胶吸盘上自动脱落即可。采用本发明,硅片表面的擦痕减少,非倒角硅片崩边率下降,硅片返工片比例从原来的2%左右下降到了0.5%。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体 研磨 硅片 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体研磨硅片取片方法,其特征在于利用中心设有孔洞,后端连接有气囊的乳胶吸盘进行取片,取片时,将气囊中的空气排出部分后,然后将乳胶吸盘的中心孔洞对准硅片的1/2半径处,之后将气囊松开,硅片就吸附在乳胶吸盘上,将硅片取出后,用手将气囊内的空气排出,硅片从乳胶吸盘上自动脱落即可。
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