[发明专利]一种半导体研磨硅片取片方法无效

专利信息
申请号: 201310477685.4 申请日: 2013-10-14
公开(公告)号: CN103600286A 公开(公告)日: 2014-02-26
发明(设计)人: 陈峰;汪利峰 申请(专利权)人: 万向硅峰电子股份有限公司
主分类号: B24B37/34 分类号: B24B37/34
代理公司: 杭州九洲专利事务所有限公司 33101 代理人: 陈继亮
地址: 324300 浙江省衢*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及一种半导体研磨硅片取片方法,该方法是利用中心设有孔洞,后端连接有气囊的乳胶吸盘进行取片,取片时,将气囊中的空气排出部分后,然后将乳胶吸盘的中心孔洞对准硅片的1/2半径处,之后将气囊松开,硅片就吸附在乳胶吸盘上,将硅片取出后,用手将气囊内的空气排出,硅片从乳胶吸盘上自动脱落即可。采用本发明,硅片表面的擦痕减少,非倒角硅片崩边率下降,硅片返工片比例从原来的2%左右下降到了0.5%。
搜索关键词: 一种 半导体 研磨 硅片 方法
【主权项】:
一种半导体研磨硅片取片方法,其特征在于利用中心设有孔洞,后端连接有气囊的乳胶吸盘进行取片,取片时,将气囊中的空气排出部分后,然后将乳胶吸盘的中心孔洞对准硅片的1/2半径处,之后将气囊松开,硅片就吸附在乳胶吸盘上,将硅片取出后,用手将气囊内的空气排出,硅片从乳胶吸盘上自动脱落即可。
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