[发明专利]半导体元件测试用分选机有效
| 申请号： | 201310455809.9 | 申请日： | 2013-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN103706576A | 公开（公告）日： | 2014-04-09 |
| 发明（设计）人： | 罗闰成;李镇福;金是勇 | 申请（专利权）人： | 泰克元有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/344 | 分类号： | B07C5/344 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 韩明星;张川绪 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明公开一种支持半导体元件测试的半导体元件测试用分选机。根据本发明，通过使构成用于收容半导体元件的测试室的特定壁能够滑动，从而为收容于测试室内部的部件的更替提供方便。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 元件 测试 分选 | ||
【主权项】：
一种半导体元件测试用分选机，其特征在于，包括：测试室，具有收容半导体元件的收容空间；往复装置，将装载的半导体元件搬入所述测试室的收容空间或者从所述测试室的收容空间搬出；移动装置，将装载于所述往复装置的半导体元件移动至测试机的测试插座，或者将测试完毕的半导体元件从测试机的测试插座移动至所述往复装置；装载部，将半导体元件装载于所述往复装置；卸载部，将半导体元件从所述往复装置卸载，其中，所述测试室的特定壁能够滑动。
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