[发明专利]一种LED发光芯片插偏缺陷的检测算法

摘要

本发明公开了一种LED发光芯片插偏缺陷的检测算法，采集待测LED发光芯片的彩色图像I；计算机读取待测LED发光芯片的彩色图像I；对彩色图像I进行灰度化处理和去噪处理，得到图像I1；对图像I1进行二值化处理，得到二值化处理后的图像I2；对二值化后的图像I2进行细化处理，得到细化处理后的图像I3；对细化处理后的图像I3进行直线拟合，得到拟合直线；根据拟合直线判断LED发光芯片是否存在插偏缺陷；该算法能够实时对生产线上的LED发光芯片的插偏缺陷进行检测，该方法高效、精确，适于生成现场实时操作。

主权项

一种LED发光芯片插偏缺陷的检测算法，其特征在于，具体包括如下步骤：步骤1：采集待测LED发光芯片的彩色图像I；计算机读取待测LED发光芯片的彩色图像I；图像的采集方向满足彩色图像I中发光二极管的两管脚均为竖直方向且两管脚重叠；步骤2：对彩色图像I进行灰度化处理和去噪处理，得到图像I1；步骤3：对图像I1进行二值化处理，得到二值化处理后的图像I2；步骤4：对二值化后的图像I2进行细化处理，得到细化处理后的图像I3；步骤5：对细化处理后的图像I3进行直线拟合，得到拟合直线；步骤6：计算拟合直线与y轴的夹角θ；步骤7：根据拟合直线的斜率求得该拟合直线的倾斜角Φ；步骤8：计算发光芯片的插入角度β，根据插入角度β与设定的角度阈值范围比较，判断是否落入角度阈值范围内，是则认为LED灯的发光芯片没有插偏缺陷，返回步骤1，对下一个待检测的发光芯片进行检测；否则，认为LED灯的发光芯片有插偏缺陷，执行步骤9；：当Φ∈[0,1.57]时，β=Φ+θ；当Φ∈(1.57,3.14]时，β=Φ‑θ；步骤9：计算机显示当前发光芯片存在插偏缺陷并显示β的值；返回步骤1。