[发明专利]一种三轴微机械陀螺仪无效
申请号: | 201310417720.3 | 申请日: | 2013-09-15 |
公开(公告)号: | CN103438878A | 公开(公告)日: | 2013-12-11 |
发明(设计)人: | 滕金燕 | 申请(专利权)人: | 滕金燕 |
主分类号: | G01C19/5747 | 分类号: | G01C19/5747 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100000 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种三轴微机械陀螺仪,包括基板和固定安装在基板上的陀螺仪主体。其中陀螺仪主体包括平面检测单元和z轴检测单元,平面检测单元包括支撑结构、驱动电极和第一质量块;z轴检测单元由两个模块组成,沿x轴以基板中心点对称分布,每个模块包括支撑梁、解耦梁、驱动梁、第二质量块和检测电极。本发明陀螺仪整体结构采用单驱动设计,采用梳齿电极驱动,平面内x轴和y轴通过平板电容检测,z轴通过梳齿电容检测,x、y和z轴均实现了驱动和检测的解耦;本发明陀螺仪结构紧凑、制作工艺简单、成本低廉、具有较高性能,能实现良好的测量精度和灵敏度。 | ||
搜索关键词: | 一种 微机 陀螺仪 | ||
【主权项】:
一种三轴微机械陀螺仪,其特征在于:包括基板(1)和固定安装在基板(1)上的陀螺仪主体(2),其中陀螺仪主体(2)包括平面检测单元和z轴检测单元;所述平面检测单元包括支撑结构(3)、驱动电极(4)和第一质量块(5),其中第一质量块(5)包括两个沿y轴分布的x轴检测质量块(x1、x2)和两个沿x轴分布的y轴检测质量块(y1、y2),且所述四个质量块以基板(1)中心点对称分布,所述支撑结构(3)与第一质量块(5)相连,所述驱动电极(4)与第一质量块(5)连接,此外基板(1)上对应第一质量块(5)的位置制作金属层,形成平面检测电极板(6);所述z轴检测单元由两个模块组成,沿x轴以基板(1)中心点对称分布,每个模块包括支撑梁(7)、解耦梁(8)、驱动梁(9)、第二质量块(10)和检测电极(11),其中驱动梁(9)一端连接第一质量块(5),另一端连接第二质量块(10),解耦梁(8)分别连接第二质量块(10)和检测电极(11),支撑梁(7)一端连接检测电极(11),另一端通过锚点固定在基板(1)上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于滕金燕,未经滕金燕许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310417720.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。