[发明专利]一种退火制备二硼化镁超导薄膜微结构的方法无效

专利信息
申请号: 201310415603.3 申请日: 2013-09-12
公开(公告)号: CN103500793A 公开(公告)日: 2014-01-08
发明(设计)人: 孔祥东;韩立;薛虹;李建国;初明璋 申请(专利权)人: 中国科学院电工研究所
主分类号: H01L39/24 分类号: H01L39/24
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 关玲
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种电子束退火制备二硼化镁超导薄膜微结构的方法,该方法采用电子束在真空中对具有微结构图形的二硼化镁前驱膜进行退火。所述的具有微结构图形的二硼化镁前驱膜为采用掩模法制备的Mg/B多层膜,在秒数量级的退火时间内使前驱膜中的镁、硼单质发生化学反应,最终生成转变温度高于35K的二硼化镁超导薄膜微结构。
搜索关键词: 一种 退火 制备 二硼化镁 超导 薄膜 微结构 方法
【主权项】:
一种电子束退火制备二硼化镁超导薄膜微结构的方法,其特征在于:所述的制备方法为:在电子束加工设备的真空样品室内,采用电子束对具有微结构图形的二硼化镁前驱膜进行退火,在秒数量级的退火时间内使所述的二硼化镁前驱膜中的镁、硼单质发生化学反应,最终生成二硼化镁超导薄膜微结构;所述的具有微结构图形的二硼化镁前驱膜为采用掩膜法制备的Mg/B多层膜。
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  • 2011-06-15 - 2016-11-30 - H01L39/24
  • 本发明涉及具有柔性金属基材的高温超导带材导体,所述高温超导带材导体包含至少一个布置于柔性金属基材上的中间层,所述中间层在与柔性金属基材相反的一侧包含多个梯台,其中所述梯台的平均宽度小于1μm且所述梯台的平均高度大于20nm,以及包含至少一个布置于中间层上的高温超导层,所述高温超导层布置于至少一个中间层上且包含大于3μm的层厚度。与导体宽度相关的所述高温超导带材导体的安培容量在77K下大于600A/cm。
  • 用于制造用于超导层的衬底的方法-201480063275.8
  • A·C·伍尔夫 - 丹麦科技大学
  • 2014-11-20 - 2016-07-20 - H01L39/24
  • 提供了一种用于制造适合支撑细长超导元件的衬底的方法,其中,在固体元件(202)上布置一个或多个细长条掩蔽材料,从而形成一侧或两侧由细长条掩蔽材料定界的一个或多个暴露的细长区域,并且在所述固体元件上布置填充材料,使得所述在一个或多个暴露的细长区域中的每个暴露的细长区域被填充材料的一部分(318a‑318c)覆盖,其中,填充材料的每个部分还覆盖与该每个部分相邻的细长条掩蔽材料的至少一部分,并且随后去除所述一个或多个细长条掩蔽材料,从而形成相应的一个或多个底切空间,其中,所述一个或多个底切空间中的每个底切空间沿着填充材料的一部分形成在填充材料的所述一部分与固体元件之间。该方法还可包括在衬底上布置缓冲材料(640)和/或超导材料(642、644、646),从而提供具有减少的AC损耗的超导结构(601)。
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