[发明专利]基于SOI片器件层硅阳极键合的电容式温度、湿度和气压传感器集成制造方法有效
申请号: | 201310393751.X | 申请日: | 2013-09-02 |
公开(公告)号: | CN103438936A | 公开(公告)日: | 2013-12-11 |
发明(设计)人: | 王立峰;任青颖;唐丹;黄庆安 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | G01D21/02 | 分类号: | G01D21/02 |
代理公司: | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人: | 杨晓玲 |
地址: | 211103 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于SOI片器件层硅阳极键合的电容式温度、湿度和气压传感器集成制造方法,所述制造方法利用分步深硅刻蚀技术和SOI片器件层硅与玻璃阳极键合技术相结合,可同时制备集成传感器所需的薄膜结构、电极间隙极小的平板大电容结构和密封腔体结构,其特征在于实现了全电容敏感的温度、湿度和气压传感器的集成制造,即实现了低功耗集成多传感器结构。本发明可实现温度、湿度和气压传感器的片上集成,传感器集成结构的面积大大减小、互联线长度降低系统可靠性得以提高。 | ||
搜索关键词: | 基于 soi 器件 阳极 电容 温度 湿度 气压 传感器 集成 制造 方法 | ||
【主权项】:
基于SOI片器件层硅阳极键合的电容式温度、湿度和气压传感器集成制造方法,其特征在于:该方法基于SOI片器件层硅以及玻璃衬底(6)实现,所述SOI片器件层硅由从上至下依次设置的衬底硅(1)、氧化埋层(2)、器件层硅(3)组成;利用分步深硅刻蚀技术和SOI片器件层硅与玻璃阳极键合技术相结合,同时制备薄膜结构、平板大电容结构和密封腔体结构,最终形成湿度传感器、气压传感器和温度传感器集成结构;该方法包括如下步骤:步骤1),干法刻蚀所述器件层硅(3),控制刻蚀深度分别得到气压传感器和温度传感器的硅薄膜结构(31);采用离子注入技术降低所述器件层硅(3)的电阻率,生成介质层并刻蚀图形,得到湿度传感器、温度传感器和气压传感器的介电应变层(4);采用干法刻蚀刻穿器件层硅(3)得到湿度传感器的梳齿电容结构和温度传感器的悬臂梁结构,同时得到湿度传感器、气压传感器和温度传感器相互电隔离的槽(32);步骤2),在所述温度传感器的介电应变层(4)表面淀积并腐蚀图形,得到温度传感器的感温金属层(5);步骤3),在所述玻璃衬底(6)上淀积金属层并腐蚀图形得到湿度传感器、气压传感器和温度传感器的电极(7);在所述湿度传感器的电极(7)表面涂敷湿敏材料并腐蚀图形得到湿度传感器的感湿层(8);再在所述湿度传感器的感湿层(8)的表面淀积金属层并腐蚀图形得到湿度传感器的上电极(9);步骤4),将所述SOI片器件层硅(3)与所述玻璃衬底(6)进行阳极键合得到密封键合面(10),并形成气压传感器密封腔体;步骤5),腐蚀所述SOI片衬底硅(1)和SOI片氧化埋层(2)释放结构,得到最终的湿度传感器(11)、气压传感器(12)以及温度传感器(13)。
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