[发明专利]适用于转接板的TSV结构及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201310375502.8 申请日: 2013-08-26
公开(公告)号: CN103426864A 公开(公告)日: 2013-12-04
发明(设计)人: 王磊;张文奇 申请(专利权)人: 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司
主分类号: H01L23/538 分类号: H01L23/538;H01L21/768
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所 32104 代理人: 曹祖良
地址: 214135 江苏省无锡市新区太湖国*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种适用于转接板的TSV结构及其制备方法,包括衬底;特征是:在所述衬底上设有TSV深孔,在TSV深孔的侧壁及底壁上设置第一绝缘层,在第一绝缘层表面设置第二绝缘层,在第二绝缘层表面设置扩散阻挡层,在扩散阻挡层表面设置种子层,在TSV深孔中填充导电金属。所述适用于转接板的TSV结构的制备方法,包括以下步骤:(1)在衬底上刻蚀形成TSV深孔;(2)在衬底正面采用热氧化方式生长二氧化硅,得到第一绝缘层;在第一绝缘层表面采用PECVD、SACVD或APCVD沉积TEOS,得到第二绝缘层;再在第二绝缘层表面沉积扩散阻挡层,在扩散阻挡层表面沉积种子层;最后在TSV深孔中填充导电金属。本发明工艺简单、成本低廉、质量良好,提高了硅通孔绝缘层的均匀性和绝缘性。
搜索关键词: 适用于 转接 tsv 结构 及其 制备 方法
【主权项】:
一种适用于转接板的TSV结构,包括衬底(101),衬底(101)具有相对应的衬底正面(102)和衬底背面(103);其特征是:在所述衬底(101)上设有TSV深孔(201),在TSV深孔(201)的侧壁及底壁上设置第一绝缘层(301),在第一绝缘层(301)表面设置第二绝缘层(401),在第二绝缘层(401)表面设置一层或多层扩散阻挡层(501),在扩散阻挡层(501)表面设置种子层,在TSV深孔(201)中填充导电金属。
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