[发明专利]在GaAs纳米线侧壁利用纳米环作为掩膜生长量子点的方法无效

专利信息
申请号: 201310290299.4 申请日: 2013-07-11
公开(公告)号: CN103367588A 公开(公告)日: 2013-10-23
发明(设计)人: 査国伟;李密锋;喻颖;王莉娟;徐建星;尚向军;倪海桥;贺振宏;牛智川 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01L33/30 分类号: H01L33/30;H01L21/20
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种在GaAs纳米线侧壁利用纳米环作为掩膜生长量子点的方法,包括:取一半导体衬底;在该半导体衬底上生长二氧化硅层;对生长有二氧化硅层的半导体衬底进行清洗;采用自催化的方法,在二氧化硅层上生长纳米线,该纳米线的顶端有Ga液滴;采用高As压处理消耗纳米线顶端的Ga液滴,抑制顶端的纳米线的VLS生长,形成基片;在低As压的环境中,在基片上淀积Ga液滴;在As环境中,在基片上纳米线的侧壁上,As与Ga液滴结合晶化形成纳米环;利用纳米环作为掩膜生长量子点,并生长盖层。本发明首次实现纳米线侧壁图形化生长量子点,实现了对单根纳米线上量子点数量的定量控制,在纳米线基单光子源方面具有重要的应用前景。
搜索关键词: gaas 纳米 侧壁 利用 作为 生长 量子 方法
【主权项】:
一种在GaAs纳米线侧壁利用纳米环作为掩膜生长量子点的方法,其特征在于,包括:步骤1:取一半导体衬底(1);步骤2:在该半导体衬底(1)上生长二氧化硅层(2);步骤3:对生长有二氧化硅层(2)的半导体衬底(1)进行清洗;步骤4:采用自催化的方法,在二氧化硅层(2)上生长纳米线(3),该纳米线(3)的顶端有一Ga液滴(4);步骤5:采用高As压处理消耗纳米线(3)顶端的Ga液滴(4),抑制顶端的纳米线(3)的VLS生长,形成基片;步骤6:在低As压的环境中,在基片上淀积Ga液滴;步骤7:在As环境中,在基片上纳米线(3)的侧壁上,As与Ga液滴结合晶化形成纳米环(5);步骤8:利用纳米环作为掩膜生长量子点(6),并生长盖层。
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