[发明专利]一种测量反极图的方法

摘要

本发明公开了一种反极图的测量方法，包括以下步骤：确定试样及标样各个衍射峰的峰位置以及峰左右两边的背底位置；把试样放入X-射线仪测量装置的1θ轴上，将探测器置于2θ轴上，让1θ轴和2θ轴均处于0°位置；获得探测器上的该衍射峰的X-射线的强度；获得该衍射峰的背底强度；计算{hkl}衍射峰的净强度；将试样从1θ轴上卸下，放入标样，测定标样的衍射峰的净强度；计算出试样净强度与标样的比值，并将所有的比值取平均值即为该{hkl}衍射峰的极密度值；将得到的各{hkl}衍射峰的极密度值标在该试样的反极图上，完成测量过程。本发明测量结果包含了那些与能产生对称衍射的晶粒取向偏差很小的晶粒对测量结果的贡献，测量结果能更准确反映材料的性能。

主权项

一种反极图的测量方法，包括以下步骤：（1）确定各个衍射峰的峰位置：采取X‑射线衍射仪对称衍射方法获得一张试样及标样衍射图谱，并根据衍射图谱来确定若干个hkl 衍射峰峰位置，即2θ位置，以及峰左右两边的背底位置；（2）把试样放入X‑射线衍射仪测量装置的1θ轴上，将探测器置于2θ轴上，让1θ轴和2θ轴均处于0°位置；（3）让X‑射线衍射仪测量装置的1θ轴和2θ轴按1:2的角速度之比，将探测器依次旋转到步骤（1）中所确定的每个衍射峰峰位置，探测器每到达一个衍射峰峰位置，探测器停止，让1θ轴上试样沿1θ轴轴向方向顺时针按一定的步进速度从‑10°位置旋转到+10°位置，同时计算机记录1θ轴上试样每一步进下探测器上的X‑射线的强度I峰；（4）将探测器依次旋转到各衍射峰左右两边的背底位置，让1θ轴和2θ轴按1:2的角速度之比，将探测器依次旋转到步骤（1）中所确定的若干个衍射峰两边的背底位置，探测器每到达一个背底位置，探测器停止，让1θ轴上试样沿1θ轴轴向方向顺时针按一定的步进速度从‑10°位置旋转到+10°位置，同时计算机记录1θ轴上试样每一步进下探测器上的X‑射线的强度，得到1θ轴每一步进下探测器上的X‑射线的强度I背底左和I背底右，将I背底左和I背底右取平均值获得该步进下该衍射峰的背底强度I背底；（5）计算{hkl}衍射峰的净强度Ihkl，Ihkl=I峰‑I背底；（6）将试样从1θ轴上卸下，放入标样，在相同的实验条件下，重复步骤（2）至（5）的测量过程测定标样的衍射峰的净强度I.hkl；（7）计算出每一步进下试样净强度Ihkl与标样的I.hkl的比值Ihkl/I.hkl，并将所有的比值取平均值即为该{hkl}衍射峰的极密度值；（8）将步骤7中得到的各{hkl}衍射峰的极密度值标在该试样的反极图上，完成测量过程。