[发明专利]降低二维晶体材料接触电阻的方法有效
| 申请号： | 201310254601.0 | 申请日： | 2013-06-25 |
| 公开（公告）号： | CN104253015B | 公开（公告）日： | 2017-12-22 |
| 发明（设计）人： | 贾昆鹏;粟雅娟;朱慧珑;赵超 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | H01L21/02 | 分类号： | H01L21/02 |
| 代理公司： | 北京维澳专利代理有限公司11252 | 代理人： | 王立民 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种降低二维晶体材料接触电阻的方法，包括提供衬底，所述衬底上具有二维晶体材料层；在所述二维晶体材料层上形成图案化的掩膜层；在掩膜层及二维晶体材料层上形成接触材料层；进行离子注入；去除掩膜层及其上的接触材料层；进行热退火工艺。本发明不需要额外增加掩膜版和刻蚀工艺，自对准实现二维晶体材料层接触电阻的调整，有效降低了二维晶体材料与接触材料的接触电阻。 | ||
| 搜索关键词： | 降低 二维 晶体 材料 接触 电阻 方法 | ||
【主权项】：
一种降低二维晶体材料接触电阻的方法，包括：提供衬底，所述衬底上具有二维晶体材料层；在所述二维晶体材料层上形成图案化的掩膜层；在掩膜层及二维晶体材料层上形成接触材料层，接触材料为金属材料；在形成接触材料层之后进行离子注入，轰击二维晶体材料以至少形成空位，其中，接触材料层的种类、厚度以及注入的离子类型和能量可调，以调节轰击效果；去除掩膜层及其上的接触材料层；进行热退火使空位与接触材料成键，进而降低接触电阻。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所，未经中国科学院微电子研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310254601.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种根据订单信息自动分类存储装置
- 下一篇：一种防拆电子标签
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
