[发明专利]基于光致发光的太阳能晶硅硅片质量预测、控制方法

摘要

本发明公开一种基于光致发光的太阳能晶硅硅片质量预测、控制方法，包括进行硅片取样，构建硅片样本库；用激光编码器将所取的硅片进行标识；使用光致发光测试系统对硅片测试，并使用读码器读取其身份信息；将硅片按生产工艺制作成电池片，测试电池的电学参数；构建硅片和对应电池相关参数的数据库；对来料硅片进行抽样；使用光致发光测试系统对所抽样本进行测试，根据建立的预测模型对硅片生产成电池后的电学参数进行预测，以此对来料硅片的质量进行预测；按照预测的结果，对来料的硅片的质量进行控制。本发明可以有效预测硅片的质量，以控制硅片质量、提高成品率、避免生产成本的浪费，从而降低生产成本。

主权项

一种基于光致发光的太阳能晶硅硅片质量预测、控制方法，其特征在于：所述方法包括以下步骤：（1）进行硅片取样，构建硅片样本库；（2）使用激光编码器将所取的硅片进行标识；（3）使用光致发光测试系统对硅片进行测试，记录硅片的缺陷及杂质的程度和硅片其他信息，并使用读码器读取硅片身份信息以对采集的数据进行辨识；（4）将硅片按生产工艺制作成电池片，测试电池的电学参数；（5）构建硅片和对应电池相关参数的数据库，建立硅片生产成电池后的电学参数预测模型；（6）对来料硅片进行抽样；（7）使用光致发光测试系统对所抽样本进行测试，根据建立的预测模型对硅片生产成电池后的电学参数进行预测，依此对来料硅片的质量进行预测；（8）按照预测的结果，对来料的硅片的质量进行控制。