[发明专利]一种自对准石墨烯场效应晶体管及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201310226455.0 申请日: 2013-06-07
公开(公告)号: CN103311276A 公开(公告)日: 2013-09-18
发明(设计)人: 金智;彭松昂;麻芃;张大勇;史敬元;陈娇 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L29/16 分类号: H01L29/16;H01L29/772;H01L21/32;H01L21/335
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种自对准石墨烯场效应晶体管及其制备方法,该自对准石墨烯场效应晶体管包括半导体衬底、绝缘层、导电通道、源电极、漏电极、栅介质层、栅金属和自对准金属,其中,绝缘层形成于半导体衬底上,导电沟道形成于绝缘体上,导电沟道由石墨烯构成,源电极和漏电极分别形成于导电通道的两侧,栅介质层选择性沉积在源电极和漏电极之间的导电沟道上,栅金属形成于栅介质层之上,栅介质层与栅金属同时图形化堆砌在一起形成栅堆积层,对沟道区载流子浓度进行调控;自对准金属层覆盖源电极、漏电极、导电通道以及栅金属之上,减小未被栅条覆盖区域面积,实现器件栅与源漏的自对准。
搜索关键词: 一种 对准 石墨 场效应 晶体管 及其 制备 方法
【主权项】:
一种自对准石墨烯场效应晶体管,其特征在于,该自对准石墨烯场效应晶体管包括半导体衬底(10)、绝缘层(11)、导电通道(12)、源电极(13)、漏电极(14)、栅介质层(15)、栅金属(16)和自对准金属(17),其中,绝缘层(11)形成于半导体衬底(10)上,导电沟道(12)形成于绝缘层(11)上,导电沟道(12)由石墨烯构成,源电极(13)和漏电极(14)分别形成于导电通道(12)的两侧,栅介质层(15)选择性沉积在源电极(13)和漏电极(14)之间的导电沟道(12)上,栅金属(16)形成于栅介质层(15)之上,栅介质层(15)与栅金属(16)同时图形化堆砌在一起形成栅堆积层,对沟道区载流子浓度进行调控;自对准金属(17)覆盖源电极(13)、漏电极(14)、导电通道(12)以及栅金属(16)之上,减小未被栅条覆盖区域面积,实现器件栅与源漏的自对准。
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