[发明专利]BCH码检纠错方法、电路及容错存储器有效
| 申请号： | 201310224101.2 | 申请日： | 2013-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN103269231A | 公开（公告）日： | 2013-08-28 |
| 发明（设计）人： | 张怡云;陈后鹏;宋志棠 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
| 主分类号： | H03M13/15 | 分类号： | H03M13/15 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人： | 李仪萍 |
| 地址： | 200050 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种BCH码检纠错方法、电路及容错存储器。根据本发明的方法，先基于已经过BCH编码的待检验BCH数据组的监督矩阵来计算待检验BCH数据组的待比较校正子；随后，若所述待比较校正子不为0，则将所述待比较校正子与多个标准校正子进行比较，并基于与所述待比较校正子不同的数据位数量最少、且所指明的错误位数也最少的标准校正子来校正所述待检验BCH数据组中的相应数据。与BCH码的原纠正能力相比，本发明能更大限度地利用了校验码，提高了纠错能力；且BCH码检纠错电路可由纯逻辑电路构成，不需要时钟，仅存在门延迟，适合应用于SPI接口之类对时序有特别要求的情况。 | ||
| 搜索关键词： | bch 纠错 方法 电路 容错 存储器 | ||
【主权项】：
一种BCH码检纠错方法，其特征在于，所述BCH码检纠错方法至少包括：1）基于已经过BCH编码的待检验BCH数据组的监督矩阵来计算所述待检验BCH数据组的待比较校正子；2）若所述待比较校正子不为0，则将所述待比较校正子与多个标准校正子进行比较，并基于与所述待比较校正子不同的数据位数量最少、且所指明的错误位数也最少的标准校正子来校正所述待检验BCH数据组中的相应数据。
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