[发明专利]BCH码检纠错方法、电路及容错存储器

权利要求书

1.一种BCH码检纠错方法，其特征在于，所述BCH码检纠错方法至少包括：

1）基于已经过BCH编码的待检验BCH数据组的监督矩阵来计算所述待检验BCH数据组的待比较校正子；

2）若所述待比较校正子不为0，则将所述待比较校正子与多个标准校正子进行比较，并基于与所述待比较校正子不同的数据位数量最少、且所指明的错误位数也最少的标准校正子来校正所述待检验BCH数据组中的相应数据。

2.根据权利要求1所述的BCH码检纠错方法，其特征在于，所述步骤2）还包括：

若所述待比较校正子不为0，则依照所指明错误位数升序顺序，将所述待比较校正子依序与各标准校正子进行比较，一旦有与所述待比较校正子完全相同的标准校正子，则基于与此标准校正子来校正所述待检验BCH数据组中的相应数据；否则一旦有1位数据位与所述待比较校正子不同的标准校正子，则基于与所述待比较校正子仅1位数据位不同的标准校正子来校正所述待检验BCH数据组中的相应数据；否则一旦有2位数据位与所述待比较校正子不同的标准校正子，则基于与所述待比较校正子仅2位数据位不同的标准校正子来校正所述待检验BCH数据组中的相应数据；否则……，直至一旦有t位数据位与所述待比较校正子不同的标准校正子，则基于与所述待比较校正子仅t位数据位不同的标准校正子来校正所述待检验BCH数据组中的相应数据；其中，t为大于等于1的预定整数。

3.根据权利要求1或2所述的BCH码检纠错方法，其特征在于，当用于比较的标准校正子中，不包括只能指明错误位置为校验位的标准校正子，且没有与待比较校正子完全相同的标准校正子时，则若所述比较校正子各数据位的数据相加所得的和值，大于与所述待比较校正子不同的数据位数量最少、且所指明的错误位数也最少的标准校正子的与所述待比较校正子不同的数据位的数量与所指明的错误位数之和，则基于该与所述待比较校正子不同的数据位数量最少、且所指明的错误位数也最少的标准校正子来校正所述待检验BCH数据组中的相应数据，否则认为所述待检验BCH数据组的数据位没有出现错误，不作纠正处理。

4.一种BCH码检纠错电路，其特征在于：所述BCH码检纠错电路至少包括：

生成电路，用于基于已经过BCH编码的待检验BCH数据组的监督矩阵来计算所述待检验BCH数据组的待比较校正子；

纠错电路，用于若所述待比较校正子不为0，则将所述待比较校正子与多个标准校正子进行比较，并基于与所述待比较校正子不同的数据位数量最少、且所指明的错误位数也最少的标准校正子来校正所述待检验BCH数据组中的相应数据。

5.根据权利要求4所述的BCH码检纠错电路，其特征在于：所述纠错电路还包括：

子纠错单元，用于若所述待比较校正子不为0，则依照所指明错误位数升序顺序，将所述待比较校正子依序与各标准校正子进行比较，一旦有与所述待比较校正子完全相同的标准校正子，则基于与此标准校正子来校正所述待检验BCH数据组中的相应数据；否则一旦有1位数据位与所述待比较校正子不同的标准校正子，则基于与所述待比较校正子仅1位数据位不同的标准校正子来校正所述待检验BCH数据组中的相应数据；否则一旦有2位数据位与所述待比较校正子不同的标准校正子，则基于与所述待比较校正子仅2位数据位不同的标准校正子来校正所述待检验BCH数据组中的相应数据；否则……，直至一旦有t位数据位与所述待比较校正子不同的标准校正子，则基于与所述待比较校正子仅t位数据位不同的标准校正子来校正所述待检验BCH数据组中的相应数据；其中，t为大于等于1的预定整数。

6.根据权利要求4或5所述的BCH码检纠错电路，其特征在于，当用于比较的标准校正子中，不包括只能指明错误位置为校验位的标准校正子时，所述纠错电路还包括：

和值比较单元，用于当不存在与待比较校正子完全相同的标准校正子时，若所述比较校正子各数据位的数据相加所得的和值，大于与所述待比较校正子不同的数据位数量最少、且所指明的错误位数也最少的标准校正子的与所述待比较校正子不同的数据位的数量与所指明的错误位数之和，则基于该与所述待比较校正子不同的数据位数量最少、且所指明的错误位数也最少的标准校正子来校正所述待检验BCH数据组中的相应数据，否则认为所述待检验BCH数据组的数据位没有出现错误，不作纠正处理。