[发明专利]电容式硅麦克风及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201310202673.0 申请日: 2013-05-28
公开(公告)号: CN103281662B 公开(公告)日: 2018-08-10
发明(设计)人: 康晓旭;袁超;陈燕 申请(专利权)人: 上海集成电路研发中心有限公司
主分类号: H04R19/04 分类号: H04R19/04;H04R31/00
代理公司: 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 代理人: 吴世华;林彦之
地址: 201210 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种电容式硅麦克风的制备方法,电容式硅麦克风与一集成电路集成于同一衬底上,包括:在衬底上形成分别用于制作集成电路和硅麦克分电路的第一、第二区域,第二区域包括一钝化层、一器件组和一介质层,器件组包括第一、第二器件;刻蚀第二区域以形成至少一通气孔;沉积第一牺牲层;去除通气孔之外的第一牺牲层;沉积第二牺牲层;定义空气隙区域,在其上沉积一金属层,以顶部及侧部包覆空气隙区域内的第二牺牲层,并使金属层与第二器件相连;在金属层上形成至少一释放孔;刻蚀形成空气隙与气腔;其中,第一器件为硅麦克风的电容第一极,金属层为硅麦克风的电容第二极。其兼容性好、生产成本低。
搜索关键词: 电容 麦克风 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种基于半导体衬底制作的电容式硅麦克风,包括:在所述衬底第一区域形成的集成电路;在所述衬底第二区域形成的硅麦克风电路;其中,所述集成电路与所述硅麦克风电路通过至少一连接点连接,所述硅麦克风电路包括:一钝化层,其为所述第二区域表面层;一介质层,设置于所述钝化层与所述衬底之间;一器件组,埋设于所述钝化层底部、位于所述介质层之上,其包括第一器件和第二器件;一空气隙,位于所述钝化层上方,用于作为所述电容式硅麦克风的绝缘介质;一金属层,包括相互连接的第一部与第二部,所述第一部从顶部及侧部包覆所述空气隙,其上表面设有至少一释放孔,分别连通所述电容式硅麦克风外部与所述空气隙,所述第二部贯通所述钝化层与所述第二器件相连;一气腔,形成于所述衬底内;以及至少一通气孔,其贯通所述钝化层与所述介质层,分别与所述气腔、所述空气隙导通;其中,所述第一器件为所述电容式硅麦克风的电容第一极,所述金属层为所述电容式硅麦克风的电容第二极。
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