[发明专利]一种N型横向碳化硅金属氧化物半导体管有效
申请号: | 201310199858.0 | 申请日: | 2013-05-27 |
公开(公告)号: | CN103311303A | 公开(公告)日: | 2013-09-18 |
发明(设计)人: | 孙伟锋;黄宇;王永平;张春伟;戴佼容;刘斯扬;陆生礼;时龙兴 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/08 |
代理公司: | 江苏永衡昭辉律师事务所 32250 | 代理人: | 齐旺 |
地址: | 214135 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 一种N型横向碳化硅金属氧化物半导体管,包括:P型衬底,在P型衬底上设有P型外延层,在P型外延层的内部设有N型漂移区、N型源区和P型体接触区,在N型漂移区内设有N型漏区,在P型外延层的表面设有栅氧化层和场氧化层,在栅氧化层和场氧化层的表面设有多晶硅栅,其特征在于,在场氧化层的下方靠近栅氧化层的位置设有重掺杂深P型柱,在栅氧化层正下方设有轻掺杂P型基区,重掺杂深P型柱的存在使得该器件的抗穿通能力有了很大的提高,使得P型基区相对于一般器件,长度更短,浓度更淡,从而降低了器件的导通电阻和阈值电压。 | ||
搜索关键词: | 一种 横向 碳化硅 金属 氧化物 半导体 | ||
【主权项】:
一种N型横向碳化硅金属氧化物半导体管,包括:P型衬底(1),在P型衬底(1)上设有P型外延层(2),在P型外延层(2)的内部设有N型漂移区(3)、N型源区(5)和P型体接触区(6),在N型漂移区(3)内设有N型漏区(4),在P型外延层(2)的表面设有栅氧化层(8)和场氧化层(11)且栅氧化层(8)的一端和场氧化层(11)的一端相抵,所述栅氧化层(8)的另一端向N型源区(5)延伸并止于N型源区(5)的边界,所述场氧化层(11)的另一端向N型漏区(4)延伸并止于N型漏区(4)的边界,在栅氧化层(8)的表面设有多晶硅栅(9)且多晶硅栅(9)延伸至场氧化层(11)的上表面,在场氧化层(11)、P型体接触区(6)、N型源区(5)、多晶硅栅(9)和N型漏区(4)的表面设有钝化层(12),在N型源区(5)和P型体接触区(6)表面连接有第一金属层(7),在多晶硅栅(9)的表面连接有第二金属层(10),在N型漏区(4)表面连接有第三金属层(13),其特征在于在场氧化层(11)的下方靠近栅氧化层(8)的位置设有重掺杂深P型柱(15)。
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