[发明专利]显示器基板质量检测装置及检测方法有效
| 申请号： | 201310193478.6 | 申请日： | 2013-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN103257469A | 公开（公告）日： | 2013-08-21 |
| 发明（设计）人： | 李良;任伯阳 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 | 代理人： | 蔡晓红 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种显示器基板质量检测装置及检测方法，用于检测基板中是否存在破裂。该装置包括设置在与制程区相背一侧的超声波发射器、超声波接收器和与超声波接收器连接的超声波分析器。超声波发射器向基板发射用于检测的超声波，超声波接收器接收从基板反射的超声波，超声波接收器连接的超声波分析器对接收的超声波进行分析以判断出基板是否存在破裂。本发明能够对基板包括制程区域和非制程区域的任意位置进行破片检测，能够实现对破损基板的全面拦捡，防止破损的基板对生产线和产品的损伤，并为破片原因的查找提供线索依据，方便对生产线进行维护修理。 | ||
| 搜索关键词： | 显示器 质量 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种显示器基板质量检测装置，用于检测显示器的基板质量，所述基板包括基板正面与位于所述基板正面相对的基板背面，所述基板正面设置有半导体阵列的制程区，围绕所述制程区设置有非制程区，其特征在于，所述显示器基板质量检测装置包括设置在基板背面的超声波发射器和超声波接收器，所述超声波发射器向所述基板背面发射用于检测基板质量的超声波；所述超声波接收器接收从所述基板反射的超声波；显示器基板质量检测装置还包括与所述超声波接收器连接的超声波分析器，用于对接收的超声波进行分析以判断出所述基板是否出现破裂。
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