[发明专利]显示器基板质量检测装置及检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及基板生产技术，更具体地说，涉及一种显示器基板质量检测装置及检测方法。

背景技术

在TFT-LCD等类型的基板生产过程中，需要对基板的生产质量进行检测，以发现基板中有无出现破片的状况。在现有的生产技术中，主要通过光电型的检测方式或者图像型的检测方式来发现破片。

光电型的检测方式是通过光线发射装置向待检测的基板发射光线，再通过光线传感器接收从基板反射的光线，通过检测反射光线的强度变化，作为判断基板是否存在破裂。但是这样的检测方式会受到基板的制程影响，基板的制程区无法很好的接收到反射的光线，因此无法检测到制程区是否存在破裂。

而图像型的检测方式则通过背光源照射基板，再通过CCD镜头接收基板的实时图像，通过比较实时图像的灰度值与正常基板图像的灰度值，来确定是否存在破片。由于在有制程区域无法进行上述的比较，因此这种检测方式也无法检测到制程区是否存在破裂。

现有的检测方式都无法检测到基板的制程区，导致检测的可靠性较低，无法完全检测出有破裂的基板。

发明内容

本发明的目的在于，针对现有的基板检测方式无法对基板的制程区进行有效的检测，无法完全检测出有破裂的基板的问题，提供一种显示器基板质量检测装置及检测方法以解决上述缺陷。

本发明解决上述问题的方案是，构造一种显示器基板质量检测装置，用于检测显示器的基板质量，基板包括基板正面与位于基板正面相对的基板背面，基板正面设有半导体阵列的制程区，围绕制程区设置有非制程区，显示器基板质量检测装置包括设置在基板背面的超声波发射器和超声波接收器，超声波发射器向基板背面发射用于检测基板质量的超声波；超声波接收器接收从基板反射的超声波；显示器基板质量检测装置还包括与超声波接收器连接的超声波分析器，用于对接收的超声波进行分析以判断出基板是否出现破裂。

本发明的显示器基板质量检测装置，显示器基板质量检测装置还包括发射器定位装置，超声波发射器安装在发射器定位装置上，发射器定位装置带动超声波发射器旋转或平移。

本发明的显示器基板质量检测装置，显示器基板质量检测装置还包括接收器定位装置，超声波接收器安装在接收器定位装置上，接收器定位装置带动超声波接收器旋转或平移，使超声波发射器以预定的发射角度向基板背面发射超声波。

本发明的显示器基板质量检测装置，，还包括用于带动基板水平运动的生产线，多个超声波接收器沿与生产线带动基板运动的方向相互垂直的方向排成一列，且多个超声波接收器所排成的一列的长度与基板的宽度相匹配。

本发明还涉及一种显示器基板质量检测方法，包括以下步骤：

在基板正面设置制程区和非制程区，在基板背面设置超声波发射器和超声波接收器，超声波发射器向基板背面发射用于检测基板质量的超声波；

超声波接收器接收从基板反射的超声波；

与超声波接收器连接的超声波分析器对接收的超声波进行分析以判断出基板是否出现破裂。

本发明的显示器基板质量检测方法，还包括以下步骤：

将超声波发射器安装在发射器定位装置上，由发射器定位装置带动超声波发射器旋转到预定的发射角度或平移到预定的发射位置，然后由超声波发射器以预定的发射角度向基板背面发射超声波。

本发明的显示器基板质量检测方法，还包括以下步骤：

将超声波接收器安装在接收器定位装置上，由接收器定位装置带动所述超声波接收器旋转或平移

本发明的显示器基板质量检测方法，还包括以下步骤：

由生产线带动基板水平运动；

将多个超声波接收器沿与生产线带动基板运动的方向相互垂直的方向排成一列以接收超声波，且多个超声波接收器所排成的一列的长度与基板的宽度相匹配。

实施本发明，能够对基板的任意位置进行破片检测，能够实现对破损基板的全面拦捡，防止破损的基板对生产线和产品的损伤，并为破片原因的查找提供线索依据，方便对生产线进行维护修理。

附图说明

以下结合附图对本发明进行说明，其中：

图1.a为本发明检测的基板的俯视图；

图1.b为本发明检测的基板的侧视图；

图2为本发明显示器基板质量检测装置的结构示意图；

图3为超声波发射器的结构示意图；

图4为超声波接收器的结构示意图；

图5为单列排布的超声波接收器的结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施方式对本发明进行对本发明进行详细说明。