[发明专利]一种直接贴焊的半导体发光共晶晶片的制造方法有效

专利信息
申请号: 201310190639.6 申请日: 2013-05-21
公开(公告)号: CN103311385A 公开(公告)日: 2013-09-18
发明(设计)人: 严敏;程君;周鸣波 申请(专利权)人: 严敏;程君;周鸣波
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/48
代理公司: 北京亿腾知识产权代理事务所 11309 代理人: 陈惠莲
地址: 100097 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种半导体发光DA(Direct Attach直接贴焊)共晶晶片的制造方法,包括:对透明体衬底的正面和背面都进行图形化处理;在图像化处理后的透明体衬底上进行外延生长(EPI:Epitaxy)得到外延片;对得到的外延片进行前段工序,在前段工序中对外延片进行金属光刻,用光刻胶在外延片上形成电极图形,以及对外延片进行金属蒸镀,沉积Cr,Ni,Au,Ti,Sn后最外层为AuSn合金层,得到具有电极的外延片;然后对外延片进行倒模处理;对倒膜处理后的外延片进行激光切割得到半导体发光共晶晶片。本发明省去了很多传统工序,在产品的稳定性,信赖性,可靠性等方面和传统MTBF指标方面都会提高10倍以上,是半导体发光产品家用化和高品质规模化生产的最基本的基础保证。
搜索关键词: 一种 直接 半导体 发光 晶片 制造 方法
【主权项】:
一种直接焊接DA的半导体发光共晶晶片的制造方法,包括:对透明体衬底的正面和背面都进行图形化处理;在图像化处理后的透明体衬底上进行外延生长EPI得到外延片;对得到的外延片进行前段工序,在所述前段工序中对外延片进行金属光刻,用光刻胶在外延片上形成电极图形,以及对外延片进行金属蒸镀,沉积Cr,Ni,Au,Ti,Sn,金属蒸镀后的沉积的最外层为AuSn合金层,得到具有电极的外延片;对经前段工序处理后的外延片进行倒模倒装处理;对倒膜处理后的外延片进行激光切割得到直接焊接DA的半导体发光共晶晶片。
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