[发明专利]光辐射场均匀性测量装置及测量方法无效
| 申请号： | 201310167315.0 | 申请日： | 2013-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN103278242A | 公开（公告）日： | 2013-09-04 |
| 发明（设计）人： | 冯国进 | 申请（专利权）人： | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王莹 |
| 地址： | 100013 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种光辐射场均匀性测量装置，所述装置包括有成像系统、旋转系统以及计算机控制系统，其中：所述计算机控制系统对所述旋转系统进行控制，使得所述旋转系统可进行任意角度的旋转；所述成像系统安装于所述旋转系统上，用于对待测光辐射场进行成像，并将获得的数据传输到所述计算机控制系统中；本发明通过旋转相机的方式，使得各个像素的光谱响应函数可以随时修正，从而保证所述光辐射场均匀性测量数据的准确性，本发明还提供一种光辐射场均匀性测量方法。 | ||
| 搜索关键词： | 光辐射 均匀 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
一种光辐射场均匀性测量装置，其特征在于，所述装置包括有成像系统、旋转系统以及计算机控制系统，其中：所述计算机控制系统对所述旋转系统进行控制，使得所述旋转系统可进行任意角度的旋转；所述成像系统安装于所述旋转系统上，用于对待测光辐射场进行成像，并将获得的数据传输到所述计算机控制系统中。
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