[发明专利]高压发光二极管芯片及其制造方法无效
申请号: | 201310091232.8 | 申请日: | 2013-03-21 |
公开(公告)号: | CN103187494A | 公开(公告)日: | 2013-07-03 |
发明(设计)人: | 郭金霞;闫建昌;伊晓燕;田婷;詹腾;赵勇兵;宋昌斌;王军喜 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/20;H01L27/15 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汤保平 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种高压发光二极管芯片的制作方法,包括:在衬底形成绝缘缓冲层;在绝缘缓冲层上形成n型半导体层、有源层和p型半导体层;图形化后蚀刻所述n型半导体层、有源层和p型半导体层形成沟槽,直至沟槽底部暴露出绝缘缓冲层,从而形成多个通过沟槽隔离的发光单元;形成金属互连线,将相邻发光单元串联起来;其特征在于:所述沟槽的深度为2.5um-4um。本发明可减少长时间的等离子轰击对LED有源区造成损伤,提高LED的发光亮度。 | ||
搜索关键词: | 高压 发光二极管 芯片 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种高压发光二极管芯片的制作方法,包括:在衬底形成绝缘缓冲层;在绝缘缓冲层上形成n型半导体层、有源层和p型半导体层;图形化后蚀刻所述n型半导体层、有源层和p型半导体层形成沟槽,直至沟槽底部暴露出绝缘缓冲层,从而形成多个通过沟槽隔离的发光单元;形成金属互连线,将相邻发光单元串联起来;其特征在于:所述沟槽的深度为2.5um‑4um。
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