[发明专利]一种渐变AlGaN层的制备方法及采用该方法得到的器件有效

专利信息
申请号: 201310040189.2 申请日: 2013-02-01
公开(公告)号: CN103117209A 公开(公告)日: 2013-05-22
发明(设计)人: 张佰君;杨亿斌 申请(专利权)人: 中山大学
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02;H01L29/20
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 禹小明
地址: 510275 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及半导体技术领域,更具体地涉及一种渐变AlGaN层的制备方法及采用该方法得到的器件。在生长渐变AlGaN层时,通入反应室的三甲基铝流量逐渐减少,三甲基镓流量逐渐增加;三甲基铝流量的函数为:yTMAl=a-bxm或yTMAl=a(1-x)m+b;三甲基镓流量的函数为:yTMGa=cxn+d或yTMGa=c-d(1-x)n;x为渐变AlGaN层生长的归一化时间,m、n不同时为1。本发明利用不同的流量函数,改变TMAl和TMGa在不同流量时的变化率。从而能够有效地控制铝组分在渐变AlGaN层中的分布,进而调控其上生长的GaN薄膜的应力和晶体质量,生长出高晶体质量且不龟裂的厚GaN薄膜。
搜索关键词: 一种 渐变 algan 制备 方法 采用 得到 器件
【主权项】:
1.一种渐变AlGaN层的制备方法,在生长渐变AlGaN层之前,首先在衬底上生长一层AlN缓冲层;生长渐变AlGaN层的方法为:在反应室中通入NH3、三甲基铝和三甲基镓,其中通入的三甲基铝流量逐渐减少,三甲基镓流量逐渐增加;其特征在于,三甲基铝流量的函数为:;三甲基镓流量的函数为:;其中,x为渐变AlGaN层生长的归一化时间,m、n不同时为1。
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